[发明专利]硅芯阻值检测电路、方法和系统在审
申请号: | 202110845848.4 | 申请日: | 2021-07-26 |
公开(公告)号: | CN113567747A | 公开(公告)日: | 2021-10-29 |
发明(设计)人: | 周英怀;邓长春;唐亮 | 申请(专利权)人: | 四川英杰电气股份有限公司 |
主分类号: | G01R27/14 | 分类号: | G01R27/14 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 张欣欣 |
地址: | 618000 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阻值 检测 电路 方法 系统 | ||
1.一种硅芯阻值检测电路,其特征在于,包括控制单元、供电变压器、至少一个检测开关、检测变压器、电流检测器件和电压检测器件,所述供电变压器的二次绕组通过所述至少一个检测开关与所述检测变压器的低压绕组电连接,所述检测变压器的高压绕组与硅芯电连接;所述电流检测器件串联于所述供电变压器的二次绕组与所述检测变压器的低压绕组构成的回路上,所述电压检测器件并联于所述检测变压器的低压绕组上;所述至少一个检测开关、所述电流检测器件和所述电压检测器件均与所述控制单元电连接;
所述电流检测器件用于检测所述检测变压器的输入电流;
所述电压检测器件用于检测所述检测变压器的输入电压;
所述控制单元用于控制所述至少一个检测开关的通断;还用于根据所述电流检测器件的电流检测值和所述电压检测器件的电压检测值,推算所述硅芯的阻值。
2.根据权利要求1所述的硅芯阻值检测电路,其特征在于,所述至少一个检测开关包括第一检测开关和第二检测开关,所述供电变压器的二次绕组上设置有第一抽头、第二抽头和公共点,所述第一抽头通过所述第一检测开关与所述检测变压器的低压绕组的一端电连接,所述第二抽头通过所述第二检测开关与所述检测变压器的低压绕组的一端电连接,所述检测变压器的低压绕组的另一端与所述公共点电连接,所述第一检测开关和所述第二检测开关均与所述控制单元电连接,且所述第一检测开关和所述第二检测开关合闸相互闭锁。
3.根据权利要求1所述的硅芯阻值检测电路,其特征在于,所述硅芯阻值检测电路还包括限流电阻、隔离开关,所述限流电阻串联于所述供电变压器的二次绕组与所述检测变压器的低压绕组构成的回路上;所述隔离开关串联于检测变压器的高压绕组与所述硅芯之间。
4.根据权利要求3所述的硅芯阻值检测电路,其特征在于,所述隔离开关为接触器或断路器。
5.根据权利要求1所述的硅芯阻值检测电路,其特征在于,所述检测开关为继电器或接触器。
6.一种硅芯阻值检测方法,其特征在于,应用于权利要求1所述的硅芯阻值检测电路,所述方法包括:
所述控制单元控制所述检测开关闭合;
所述控制单元在所述检测变压器的高压绕组未与所述硅芯接通的情况下,根据所述电流检测器件的第一电流检测值和所述电压检测器件的第一电压检测值,计算所述检测变压器的空载损耗;
所述检测变压器的高压绕组与所述硅芯接通后,所述控制单元根据所述电流检测器件的第二电流检测值、所述电压检测器件的第二电压检测值,计算得到总损耗;所述总损耗包括所述检测变压器的空载损耗和所述硅芯上的损耗;
通过所述总损耗减去所述空载损耗折算出所述硅芯上的损耗,再通过所述硅芯上的损耗计算所述硅芯的阻值。
7.根据权利要求6所述的硅芯阻值检测方法,其特征在于,所述硅芯的阻值的计算公式为:RX=U12/[k2(P-P空载损耗)],其中,U1为所述第一电压检测值,k为所述检测变压器的变比,P为根据所述第二电流检测值和所述第二电压检测值计算得到的总损耗,P空载损耗为根据所述第一电流检测值和所述第一电压检测值计算得到的所述检测变压器的空载损耗。
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