[发明专利]对微电子装置测试数据的编码及其相关方法、装置和系统

权利要求书

1.一种装置，其包括：

存储器阵列，所述存储器阵列包含多个列平面；以及

至少一个电路，所述至少一个电路耦接到所述存储器阵列并且被配置成：

接收针对所述存储器阵列的所述多个列平面中的每个列平面的列地址的测试结果数据；

响应于所述多个列平面的多个位中的仅一个位未通过针对所述列地址的测试而将所述测试结果数据转换为第一结果，所述第一结果标识所述一个位和所述多个列平面中的包含所述一个位的列平面；并且

响应于仅一个列平面未通过针对所述列地址的所述测试并且所述一个列平面的多于一个位有缺陷而将所述测试结果数据转换为第二结果，所述第二结果标识所述一个列平面。

2.根据权利要求1所述的装置，其中所述至少一个电路被进一步配置成响应于所述多个列平面中的两个或两个以上列平面未通过针对所述列地址的所述测试而将所述测试结果数据转换为第三结果。

3.根据权利要求2所述的装置，其中所述至少一个电路被进一步配置成响应于所述多个列平面中没有列平面未通过针对所述列地址的所述测试而将所述测试结果数据转换为第四结果。

4.根据权利要求1所述的装置，其中所述至少一个电路被进一步配置成响应于所述多个列平面中的两个或两个以上列平面未通过针对所述列地址的所述测试或所述多个列平面中没有列平面未通过针对所述列地址的所述测试而将所述测试结果数据转换为第三结果。

5.根据权利要求1所述的装置，其中所述测试结果数据包括280个位，并且所述第一结果和所述第二结果中的每个结果包括10个位。

6.根据权利要求1所述的装置，其中所述测试结果数据包括136个位，并且所述第一结果和所述第二结果中的每个结果包括9个位。

7.根据权利要求1所述的装置，其中所述第一结果包含标识所述一个位的四个位和标识包含所述一个位的所述列平面的五个位或六个位。

8.一种方法，其包括：

测试存储器阵列的多个列平面的列地址；

响应于所述多个列平面的仅一个位未通过针对所述列地址的测试而生成第一信号，所述第一信号标识所述一个位和所述多个列平面中的包含所述一个位的列平面；以及

响应于所述多个列平面中的仅一个列平面未通过针对所述列地址的测试并且所述一个列平面的多于一个位未通过所述测试而生成第二信号，所述第二信号标识所述一个列平面。

9.根据权利要求8所述的方法，其进一步包括响应于所述多个列平面中的每个列平面通过针对所述列地址的所述测试而生成第三信号。

10.根据权利要求9所述的方法，其进一步包括响应于所述多个列平面中的两个或两个以上列平面未通过针对所述列地址的测试而生成第四信号。

11.根据权利要求8所述的方法，其进一步包括响应于所述测试而生成N个位，其中生成所述第一信号包括将所述N个位编码为M个位，其中MN。

12.根据权利要求11所述的方法，其中将N个位编码为M个位包括将136个位编码为9个位或将280个位编码为10个位。

13.根据权利要求8所述的方法，其进一步包括响应于所述第一信号而通过纠错码(ECC)容忍所述一个位。

14.根据权利要求8所述的方法，其进一步包括响应于所述第二信号而用冗余列平面替代所述一个列平面。