[发明专利]测量系统、测量方法以及测量用程序在审

专利信息
申请号: 202110850440.6 申请日: 2021-07-27
公开(公告)号: CN113984019A 公开(公告)日: 2022-01-28
发明(设计)人: 伊藤忠之;佐佐木刚 申请(专利权)人: 株式会社拓普康
主分类号: G01C11/02 分类号: G01C11/02;G01C15/00;B64C39/02;B64D47/00;B64D47/08;G05D1/10
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 闫小龙;姜冰
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 测量 系统 测量方法 以及 程序
【权利要求书】:

1.一种测量系统,对将各个外部标定要素的关系已知的第一摄像头、激光扫描仪以及全站仪复合化的测量装置所获取的测量数据以及搭载第二摄像头且能够自主飞行的UAV所获取的测量数据进行处理,其中,具备:

图像数据接收单元,接收所述第一摄像头以及所述第二摄像头拍摄到的图像的图像数据;

激光扫描数据接收单元,接收由所述激光扫描仪获得的激光扫描数据;

指定部分接收单元,接收所述第一摄像头拍摄到的图像之中的特别指定的部分的指定;

飞行计划设定单元,基于所述激光扫描数据,设定包含将所述指定部分纳入视野的视点的位置的所述UAV的飞行路径;以及

摄像头的朝向设定单元,基于所述激光扫描数据,设定沿着所述飞行路径的所述UAV的飞行中的所述第二摄像头的朝向。

2.根据权利要求1所述的测量系统,其中,

利用所述UAV进行所述特别指定的部分的拍摄,

所述视点的位置是从正面观察所述特别指定的部分的位置。

3.根据权利要求1所述的测量系统,其中,

基于所述激光扫描数据,计算所述特别指定的部分的法线,

所述视点的位置基于所述法线计算。

4.根据权利要求1~3中任一项所述的测量系统,其中,具备:

第一3D模型制作部,基于利用所述激光扫描所获得的激光扫描数据,制作所述激光扫描的对象的3D模型;以及

第二3D模型制作部,基于所述第二摄像头拍摄到的图像,利用立体照片测量的原理,制作被拍摄对象的3D模型。

5.根据权利要求4所述的测量系统,其中,

在所述UAV的飞行中,

所述测量装置进行由所述全站仪进行的所述UAV的定位,

所述第二3D模型制作部制作的3D模型是基于由所述全站仪进行的所述UAV的定位的结果在与所述第一3D模型制作部制作的3D模型相同的坐标系上被制作的。

6.根据权利要求4所述的测量系统,其中,

具备:映射处理部,基于由所述全站仪进行的所述UAV的定位的结果,将所述第二摄像头拍摄到的图像映射到所述第一3D模型制作部制作的3D模型。

7.根据权利要求6所述的测量系统,其中,

作为所述映射,进行所述第二摄像头拍摄到的图像向所述第一3D模型制作部制作的3D模型的嵌入或重叠。

8.根据权利要求4所述的测量系统,其中,

具备:映射处理部,基于由所述全站仪进行的所述UAV的定位的结果,将所述第二摄像头拍摄到的图像映射到所述第一摄像头拍摄到的图像。

9.根据权利要求8所述的测量系统,其中,

作为所述映射,进行所述第二摄像头拍摄到的图像向所述第一摄像头拍摄到的图像的嵌入或重叠。

10.根据权利要求4所述的测量系统,其中,

进行由所述激光扫描仪进行的针对测量对象物的激光扫描,

所述第二摄像头检测在所述激光扫描中被投射了激光扫描光的所述测量对象物中的激光扫描光的亮点,

基于所述亮点,进行所述第二摄像头的姿势的计算。

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