[发明专利]基于延时的数字测试码型生成方法在审
申请号: | 202110873222.4 | 申请日: | 2021-07-30 |
公开(公告)号: | CN113640656A | 公开(公告)日: | 2021-11-12 |
发明(设计)人: | 戴志坚;杨万渝;惠佳成 | 申请(专利权)人: | 四川芯测电子技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/3183 | 分类号: | G01R31/3183 |
代理公司: | 成都金英专利代理事务所(普通合伙) 51218 | 代理人: | 詹权松 |
地址: | 611730 四川省成都市*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 延时 数字 测试 生成 方法 | ||
1.基于延时的数字测试码型生成方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一:测试向量抽象,将原始信号A的测试波形进行向量抽象,获得具有若干个周期波形原始信号A;
步骤二:测试码型合成,对原始信号A进行延迟处理,分别获得第一延迟信号B和第二延迟信号C,并对第一延迟信号B和第二延迟信号C进行逻辑运算生成具有时序边沿信息的脉冲信号D。
2.根据权利要求1所述的基于延时的数字测试码型生成方法,其特征在于,所述步骤二具体包括:在FPGA内,在单位周期T内,将原始信号A输入到输入输出延迟单元中,分别以延时时长t0和t1进行延迟处理,获得延时时长t0对应的第一延迟信号B和延时时长t1对应的第二延迟信号C,将第一延迟信号B和第二延迟信号C进行异或处理,获得脉宽为延时值的脉冲信号D;延时值为t1-t0。
3.根据权利要求2所述的基于延时的数字测试码型生成方法,其特征在于,所述步骤二还包括连续两个周期T1和T2的测试码型合成过程:在FPGA内,先生成与原始信号A逻辑生成原理相反的信号E,当信号A处于在第二周期T2的上升沿时,将信号E替换信号A作为原始信号输出,并分别以相同的延时时长t0和t1对信号E进行延迟处理,获得延时时长t0对应的第三延迟信号F和延时时长t1对应的第四延迟信号G,将第三延迟信号F和第四延迟信号G进行异或处理,获得脉宽为延时值的脉冲信号D。
4.根据权利要求2所述的基于延时的数字测试码型生成方法,其特征在于,所述步骤二还包括:操作信息和测试向量存储在DDR中,时序边沿信息存储在FPGA内部的RAM中。
5.根据权利要求1所述的基于延时的数字测试码型生成方法,其特征在于,所述步骤二中具有时序边沿信息的脉冲信号D具体为D0,D1,D2,D3的四个时序边沿信息的波形;其中,D0为信号开启沿,D1为数据开始沿,D2为数据返回沿,D3为信号关断沿。
6.根据权利要求5所述的基于延时的数字测试码型生成方法,其特征在于,所述步骤二还包括:将信号开启沿D0和信号关断沿D3作为一个信号开关组合,采用开关信号控制;数据开始沿D1和数据返回沿D2作为一个数据输出组合,利用波形信号来实现;当开关处于打开状态时,输出数据逻辑状态,输出电平为预设的高低电平值,输出波形的边沿分别为开关信号和波形信号的边沿。
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