[发明专利]低功耗验证方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种低功耗验证方法，其特征在于，包括：

确定系统级芯片的寄存器传输级RTL模型以及低功耗模式下的控制逻辑测试用例；

按照所述控制逻辑测试用例以及所述RTL模型，对所述系统级芯片进行RTL仿真阶段的仿真验证，以确定在RTL仿真阶段是否验证成功；

在RTL仿真阶段验证成功时，根据所述RTL模型生成所述系统级芯片的统一电源格式UPF模型，按照所述控制逻辑测试用例以及所述UPF模型对所述系统级芯片进行RTL+UPF仿真阶段的仿真，以确定在RTL+UPF仿真阶段是否验证成功；

在RTL+UPF仿真阶段验证成功时，根据所述UPF模型生成所述系统级芯片的PG网表，按照所述控制逻辑测试用例以及所述PG网表对所述系统级芯片进行PG网表仿真阶段的仿真，以确定在PG网表仿真阶段是否验证成功。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述控制逻辑测试用例包括：低功耗模式下各个电源域对应的测试用例；

所述按照所述控制逻辑测试用例以及所述RTL模型，对所述系统级芯片进行RTL仿真阶段的仿真验证，包括：

针对每个电源域，按照所述电源域对应的测试用例控制所述RTL模型中寄存器的输入数值，以获取所述RTL模型中各个电路单元的实际输出值；

将各个电路单元的实际输出值与所述各个电路单元在所述输入数值下的理论输出范围进行比对，确定在RTL仿真阶段是否验证成功。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述针对每个电源域，按照所述电源域对应的测试用例控制所述RTL模型中寄存器的输入数值，以获取所述RTL模型中各个电路单元的实际输出值，包括：

针对每个电源域，按照所述电源域对应的测试用例控制所述RTL模型中寄存器的输入数值，进行仿真过程；

在仿真过程中调用所述RTL模型中各个电路单元，以获取所述各个电路单元在仿真过程中的实际输出值。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述RTL模型中的各个电路单元包括以下单元中的至少一种：电源域开关、门控时钟、复位单元、隔离和逻辑电路信号开关。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述UPF模型设置有重新初始化逻辑，以在重新初始化逻辑触发后将所述UPF模型中各个电路单元的数值调整为预设的初始值。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述重新初始化逻辑的设置方式包括以下方式中的至少一种：

将所述重新初始化逻辑添加到所述UPF模型中；

在所述UPF模型外嵌套外层逻辑，其中，所述外层逻辑中包括所述重新初始化逻辑。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述RTL模型生成所述系统级芯片的统一电源格式UPF模型，按照所述控制逻辑测试用例以及所述UPF模型对所述系统级芯片进行RTL+UPF仿真阶段的仿真，包括：

针对每个电源域，按照所述电源域对应的测试用例控制所述UPF模型中寄存器的输入数值，以获取所述UPF模型中各个电路单元的电路管脚的实际电压数值；

将各个电路管脚的实际电压数值与所述各个电路管脚的理论电压范围进行比对，确定在RTL+UPF仿真阶段是否验证成功。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述PG网表为未设置有标准延时格式文件的网表，用于对所述系统级芯片进行网表功能仿真。