[发明专利]一种光感元件测试分选设备

权利要求书

1.一种于光感元件测试分选设备，其特征在于：包括大板机架支撑装置(1)、真空转塔系统(2)、振动供料系统(3)、位置纠正系统(4)、暗箱测试系统(5)、电性测试系统(6)、激光打标系统(7)、视觉检测系统(8)、位置不良回收系统(9)、不良分类回收模组(10)、编带封装模组(11)，真空转塔系统(2)安装在大板机架支撑装置(1)顶面上，所述振动供料系统(3)、位置纠正系统(4)、暗箱测试系统(5)、电性测试系统(6)、激光打标系统(7)、视觉检测系统(8)、位置不良回收系统(9)、不良分类回收模组(10)、编带封装模组(11)沿着真空转塔系统(5)的圆周依次设置在真空转塔系统(5)上，其中：

所述振动供料系统(3)用于接受元件产品的输入，并将输入的产品输送到位置纠正系统(4)；

所述位置纠正系统(4)用于定位及纠正振动供料系统(3)所输送的元件的位置，并将位置纠正系统(4)位置纠正合格的元件输送到暗箱测试系统(5)，并将位置纠正不合格的元件输送位置不良回收系统(9)；

所述暗箱测试系统(5)用于将位置纠正系统(4)位置纠正合格的元件输送入暗箱测试系统(5)进行测试，并将暗箱测试系统(5)测试合格的元件输送给电性测试系统(6)进行测试，将暗箱测试系统(5)测试不合格的元件输送到不良分类回收模组(10)；

所述电性测试系统(6)用于测试暗箱测试系统(5)测试合格的元件的电性，并将测试电性系统(5)测试合格的元件传输到激光打标系统(7)，将测试电性系统(6)测试不合格的元件传输到不良分类回收模组(10)；

所述激光打标系统(7)根据电性测试系统(6)的测试结果，将测试电性系统(6)测试合格的元件进行打标，并将激光打标系统(7)打标过的产品输送到视觉检测系统(8)；

所述视觉检测系统(8)包括打标外观检查单元(81)和产品外观检查单元(82)，打标外观检查单元(81)用于检查激光打标系统(7)打标的元件的外观是否合格，对激光打标系统(7)打标不合格的元件传输到不良分类回收模组，产品外观检查单元(82)用于对激光打标系统(7)打标合格的元件再进一步进行产品外观检查，对产品外观检查单元(82)检查合格的元件输送到编带封装模组(10)，对产品外观检查单元(82)检查不合格的元件输送到不良分类回收模组(11)；

所述位置不良回收系统(9)接收位置纠正系统(4)中元件位置未纠正合格的元件；

所述不良分类回收模组(10)接受暗箱测试系统(5)测试不合格的元件、电性测试系统(6)不合格的元件、激光打标系统(7)打标不合格的元件、产品外观检查单元(81)检查不合格的元件；

所述编带封装模组(11)用于对产品外观检查单元(82)检查合格的元件进行编带封装。

2.根据权利要求1所述的一种于光感元件测试分选设备，其特征在于，所述振动供料系统(3)包括产品料斗装置(31)、振盘供料装置(32)、产品分离机构(33)，所述产品料斗装置(31)的出料端与振盘供料装置进料端相连，所述振盘供料装置(32)的出料端与产品分离机构(33)进料端相连。

3.根据权利要求1所述的一种于光感元件测试分选设备，其特征在于：所述位置纠正系统(4)包括视觉位置检查装置(41)、旋转定位纠正装置(42)，所述视觉位置检查装置(41)进料端与产品分离机构(33)出料端相连，所述视觉位置检查装置(41)出料端与旋转定位纠正装置(42)进料端相连，所述旋转定位纠正装置(42)出料端第一出口与位置不良回收系统(9)进料端相连。

4.根据权利要求3所述的一种于光感元件测试分选设备，其特征在于：所述旋转定位纠正装置(42)包括定位纠正装置一(421)、定位纠正装置二(422)、定位纠正装置三(423)。

5.根据权利要求1所述的一种于光感元件测试分选设备，其特征在于：所述暗箱测试系统(5)包括产品传送装置(51)、暗箱测试模组(52)，所述产品传送装置(51)进料端与旋转定位纠正装置(42)出料端第二出口相连，所述产品传送装置(51)出料端与暗箱测试模组(52)进料端相连，所述暗箱测试模组(52)出料端与产品传送装置(51)出料端第一入口相连，所述产品传送装置(51)出料端的第一出口与不良分类回收模组(10)进料端相连相连。