[发明专利]MOSFET漏电流检测装置、系统、方法及可读存储介质在审

专利信息
申请号: 202110905628.6 申请日: 2021-08-06
公开(公告)号: CN113702866A 公开(公告)日: 2021-11-26
发明(设计)人: 罗文庆;高桂芬;邵杰;苏建宝;刘海涛 申请(专利权)人: 上汽通用五菱汽车股份有限公司
主分类号: G01R31/52 分类号: G01R31/52;G01R31/26;G01R19/165
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 代理人: 关向兰
地址: 545007 广西壮*** 国省代码: 广西;45
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摘要:
搜索关键词: mosfet 漏电 检测 装置 系统 方法 可读 存储 介质
【说明书】:

发明公开了一种MOSFET漏电流检测装置、系统、方法及存储介质,该MOSFET漏电流检测装置包括:电流检测模块和MOSFET桥臂电路PCB,所述MOSFET桥臂电路PCB上包括至少一组上、下桥MOSFET电路,所述MOSFET桥臂电路PCB的电源端与电源连接,所述电流检测模块设置于所述MOSFET桥臂电路PCB与电源之间;所述电流检测模块,用于在所述MOSFET桥臂电路PCB与电源导通时,对所述MOSFET桥臂电路PCB上的MOSFET的漏电流信号进行采样。本发明提高了MOSFET漏电流的检测精确度,并降低了检测成本。

技术领域

本发明涉及电路电子领域,尤其涉及一种MOSFET漏电流检测装置、系统、方法及存储介质。

背景技术

电动汽车的电机控制器(以下简称控制器)的功率输出部分由较多数量的功率MOSFET(以下简称MOSFET)组成三相六臂桥式电路。MOSFET由于芯片、封装等制造缺陷,会出现高压下漏电流超出标称漏电流上限的问题,通常表现为耐压能力不足,在装机后的高压带载运行中击穿失效,导致电机控制器受损,整车动力丢失。

目前,常用的MOSFET漏电流的检测方式为通过电机控制器下线带载运行,使缺陷件失效暴露,但是受限于下线检测节拍时间,下线检测无法筛除所有潜在缺陷件,而且一旦出现失效,会导致MOSFET PCB连同整机一起报废,造成高额损失。

上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案,并不代表承认上述内容是现有技术。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种MOSFET漏电流检测装置、系统、方法及存储介质,旨在解决控制器MOSFET潜在缺陷无法被检出,导致整车应用时电机控制器受损的问题。

为了实现上述目的,本发明提供一种MOSFET漏电流检测装置,包括电流检测模块和MOSFET桥臂电路PCB,所述MOSFET桥臂电路PCB上包括至少一组上、下桥MOSFET电路,所述MOSFET桥臂电路PCB的电源端与电源连接,所述电流检测模块设置于所述MOSFET桥臂电路PCB与电源之间;

所述电流检测模块,用于在所述MOSFET桥臂电路PCB与电源导通时,对所述MOSFET桥臂电路PCB上的MOSFET的漏电流信号进行采样。

可选地,所述MOSFET漏电流检测装置还包括控制模块和开关模块,所述开关模块的第一端与所述MOSFET桥臂电路PCB的电源端连接,所述开关模块的第二端与电源连接,所述开关模块的控制端与所述控制模块的输出端连接,所述控制模块的采样端与所述电流检测模块的输出端连接;

所述控制模块,用于在接收到检测信号时,根据所述检测信号向所述开关模块输出导通电源信号,在接收到停止信号时,向所述开关模块输出截止信号;所述控制模块,还用于接收所述电流检测模块采样的漏电流信号;

所述开关模块,用于在接收到所述导通电源信号时,将所述MOSFET桥臂电路PCB与电源导通,在接收到关断信号时,将所述MOSFET桥臂电路PCB与电源断开。

可选地,所述开关模块的第三端与所述控制模块的采样端连接,所述开关模块的第四端与所述电流检测模块的输出端连接;

所述控制模块,还用于在接收到检测信号时,根据所述检测信号向所述开关模块输出导通采样端信号;

所述开关模块,用于在接收到导通采样端信号时,将所述控制模块的采样端与电流检测模块的输出端导通,在接收到关断信号时,将所述控制模块的采样端与电流检测模块的输出端断开。

可选地,所述上桥MOSFET电路包括上桥MOSFET,所述上桥MOSFET的源极与电源的正极连接,所述上桥MOSFET的漏极与电源的负极连接。

可选地,所述下桥MOSFET电路包括下桥MOSFET,所述下桥MOSFET的源极与电源的正极连接,所述下桥MOSFET的漏极与电源的负极连接。

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