[发明专利]半导体存储装置在审
申请号: | 202110912369.X | 申请日: | 2021-08-10 |
公开(公告)号: | CN114944182A | 公开(公告)日: | 2022-08-26 |
发明(设计)人: | 田畑浩司 | 申请(专利权)人: | 铠侠股份有限公司 |
主分类号: | G11C16/08 | 分类号: | G11C16/08;G11C16/10;G11C16/24;G11C16/26 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 杨林勳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 存储 装置 | ||
1.一种半导体存储装置,具备:
衬底;
多个第1导电层,在与所述衬底的表面交叉的第1方向上排列,且在与所述第1方向交叉的第2方向上延伸;
第1半导体柱,在所述第1方向上延伸,且与所述多个第1导电层对向;
第1位线,在与所述第1方向及所述第2方向交叉的第3方向上延伸,且设置在从所述第1方向观察时与所述第1半导体柱重叠的位置;
第1配线,包含从所述第1方向观察时与所述第1位线重叠的部分;及
第2配线,包含从所述第1方向观察时与所述第1位线重叠的部分;且
当将所述第1配线的电压从高电位状态转变为低电位状态的规定期间设为第1期间,
将所述第2配线的电压从低电位状态转变为高电位状态的规定期间设为第2期间时,
所述第2期间的至少一部分与所述第1期间的至少一部分重叠。
2.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其中
当将所述第1配线的电压从低电位状态转变为高电位状态且在所述第1期间之后的规定期间设为第3期间,
将所述第2配线的电压从高电位状态转变为低电位状态且在所述第2期间之后的规定期间设为第4期间时,
所述第4期间的至少一部分与所述第3期间的至少一部分重叠。
3.根据权利要求2所述的半导体存储装置,
具备第3配线,所述第3配线包含从所述第1方向观察时与所述第1位线重叠的部分,
当将所述第3配线的电压从高电位状态转变为低电位状态且在所述第3期间之后的规定期间设为第5期间,
将所述第2配线的电压从低电位状态转变为高电位状态且在所述第4期间之后的规定期间设为第6期间时,
所述第6期间的至少一部分与所述第5期间的至少一部分重叠。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的半导体存储装置,其中
所述第1期间及所述第2期间包含在如下期间内,所述期间是读出动作中对所述第1位线的充电开始到对所述第1位线的感测动作结束为止的期间。
5.根据权利要求1至3中任一项所述的半导体存储装置,其中
所述第1期间及所述第2期间包含在如下期间内,所述期间是写入动作中对所述第1位线的充电开始到对所述多个第1导电层的任一个供给编程电压结束为止的期间。
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