[发明专利]半导体存储装置在审

专利信息
申请号: 202110912369.X 申请日: 2021-08-10
公开(公告)号: CN114944182A 公开(公告)日: 2022-08-26
发明(设计)人: 田畑浩司 申请(专利权)人: 铠侠股份有限公司
主分类号: G11C16/08 分类号: G11C16/08;G11C16/10;G11C16/24;G11C16/26
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 杨林勳
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 存储 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体存储装置,具备:

衬底;

多个第1导电层,在与所述衬底的表面交叉的第1方向上排列,且在与所述第1方向交叉的第2方向上延伸;

第1半导体柱,在所述第1方向上延伸,且与所述多个第1导电层对向;

第1位线,在与所述第1方向及所述第2方向交叉的第3方向上延伸,且设置在从所述第1方向观察时与所述第1半导体柱重叠的位置;

第1配线,包含从所述第1方向观察时与所述第1位线重叠的部分;及

第2配线,包含从所述第1方向观察时与所述第1位线重叠的部分;且

当将所述第1配线的电压从高电位状态转变为低电位状态的规定期间设为第1期间,

将所述第2配线的电压从低电位状态转变为高电位状态的规定期间设为第2期间时,

所述第2期间的至少一部分与所述第1期间的至少一部分重叠。

2.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其中

当将所述第1配线的电压从低电位状态转变为高电位状态且在所述第1期间之后的规定期间设为第3期间,

将所述第2配线的电压从高电位状态转变为低电位状态且在所述第2期间之后的规定期间设为第4期间时,

所述第4期间的至少一部分与所述第3期间的至少一部分重叠。

3.根据权利要求2所述的半导体存储装置,

具备第3配线,所述第3配线包含从所述第1方向观察时与所述第1位线重叠的部分,

当将所述第3配线的电压从高电位状态转变为低电位状态且在所述第3期间之后的规定期间设为第5期间,

将所述第2配线的电压从低电位状态转变为高电位状态且在所述第4期间之后的规定期间设为第6期间时,

所述第6期间的至少一部分与所述第5期间的至少一部分重叠。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的半导体存储装置,其中

所述第1期间及所述第2期间包含在如下期间内,所述期间是读出动作中对所述第1位线的充电开始到对所述第1位线的感测动作结束为止的期间。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的半导体存储装置,其中

所述第1期间及所述第2期间包含在如下期间内,所述期间是写入动作中对所述第1位线的充电开始到对所述多个第1导电层的任一个供给编程电压结束为止的期间。

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