[发明专利]一种高速连接器性能测试工装结构及其制作方法

权利要求书

1.一种高速连接器性能测试工装结构及其制作方法，其特征在于：所述高速连接器性能测试工装结构由两组高速连接器性能测试夹具、插头连接器(6)、插座连接器(7)构成；

所述高速连接器性能测试夹具包括连接器定位板、测试探针(2)、射频连接器(3)，所述连接器定位板包括连接器定位板上层板(11)与连接器定位板下层板(12)，测试探针(2)、射频连接器(3)设于连接器定位板上层板(11)与连接器定位板下层板(12)之间；两组高速连接器性能测试夹具上分别安装插头连接器(6)、插座连接器(7)。

2.根据权利要求1所述的一种高速连接器性能测试工装结构及其制作方法，其特征在于：所述连接器定位板上层板(11)设有安装定位槽(101)、定位孔(102)、射频连接器安装孔(104)；连接器定位板下层板(12)设有测试探针安装槽(103)、射频连接器安装孔(104)。

3.根据权利要求2所述的一种高速连接器性能测试工装结构及其制作方法，其特征在于：所述测试探针(2)由射频同轴电缆构成，一端露出芯线(203)，弯成直角部(201)，用于连接到定位孔(102)，另一端露出芯线(203)，与射频连接器(3)的接触件(302)接触，测试探针中间段(202)为有外导体和护套的完整射频电缆。

4.根据权利要求3所述的一种高速连接器性能测试工装结构及其制作方法，其特征在于，所述测试探针(2)一端呈聚拢状态，穿过所述定位孔(102)，另一端呈现发散状态，用来连接所述射频连接器(3)。

5.一种高速连接器性能测试工装结构及其制作方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一：将测试探针(2)嵌入连接器定位板下层板(12)内，测试探针(2)直角部(201)的一端，呈现聚拢状态，并弯曲向上。另一端露出芯线(203)，连接射频连接器(3)；

步骤二：测试探针(2)依次连接射频连接器(3)，另一端的测试仪器连接器接口(301)用来连接测试仪器；

步骤三：将连接器定位板上层板(11)与连接器定位板下层板(12)固定，测试探针(2)直角部(201)穿过连接器定位板上层板(11)上的定位孔(102)。射频连接器(3)穿过连接器定位板上层板(11)和连接器定位板下层板(12)的射频连接器定位孔(104)；

步骤四：被测试的高速连接器的连接形式由插头连接器(6)与插座连接器(7)组成，通过插头连接器(6)与插座连接器(7)的插合和分离来实现电路的连接和断开；

步骤五：插头连接器(6)、插座连接器(7)插合，被测试的高速连接器完成对接，形成完整的高速连接器性能测试工装结构，变成可测试状态。