[发明专利]半导体封装结构及其形成方法在审
申请号: | 202110919264.7 | 申请日: | 2021-08-11 |
公开(公告)号: | CN113851431A | 公开(公告)日: | 2021-12-28 |
发明(设计)人: | 叶昶麟;黄耀霆 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31;H01L23/498;H01L21/48;H01L21/56 |
代理公司: | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;李伟 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 封装 结构 及其 形成 方法 | ||
本发明涉及一种半导体封装结构及其形成方法。半导体封装结构包括:基板;中介层,电连接于基板的上表面,中介层包括分别设置有I/O的第一I/O面和第二I/O面,第一I/O面与第二I/O面不平行,中介层内包括分别与第一I/O面处的I/O和第二I/O面处的I/O连接的迹线和通孔,其中,第一I/O面处的I/O或第二I/O面处的I/O中的一个是通孔切面,在俯视图中,通孔切面处的I/O是多个非同心圆通孔堆叠的一部分。
技术领域
本发明涉及半导体技术领域,更具体地,涉及一种半导体封装结构及 其形成方法。
背景技术
针对现行人体穿戴设备,主要采用两个非共平面模块设计以符合穿戴 者需求,因此当前一主要目标是如何将两个非共平面模块进行电性连接。
参考图1A和图1B所示,目前设计中的一种,主要利用软板12作为 连接两个非共平面模块14、16之间的连接件(connector)来进行接合,以 符合人体曲面穿戴需求。然而此种设计具有体积大的缺点,并且当两个模 块中的任一模块故障(fail)时存在无法模块化更换的缺点。
参考图1C、图1D和图1E所示,目前设计中的另一种,是在模块中 的非水平面上通过焊锡(solder)21(图1C)、导电架22(图1D)或是接 合引线23(图1E)作为连接件直接外接IO。此种设计虽然可以缩小连接 件体积,但此种设计方式中外接线路间的节距(pitch)太大,不符合未来 细间距需求。
发明内容
针对相关技术中的上述体积大、无法模块化更换、及线路节距太大的问题, 本发明提出一种半导体封装结构及其形成方法。
根据本发明实施例的一个方面,提供了一种半导体封装结构,包括: 基板;中介层,电连接于基板的上表面,中介层包括分别设置有I/O的第 一I/O面和第二I/O面,第一I/O面与第二I/O面不平行,中介层内包括分 别与第一I/O面处的I/O和第二I/O面处的I/O连接的迹线和通孔,其中, 第一I/O面处的I/O或第二I/O面处的I/O中的一个是通孔切面,在俯视图 中,通孔切面处的I/O是多个非同心圆通孔堆叠的一部分。
在一些实施例中,在沿着多个非同心圆堆叠的方向上,通孔切面处的 I/O具有不同的宽度。
在一些实施例中,第一I/O面与基板连接,并且第一I/O面是通孔切面。
在一些实施例中,在垂直于第二I/O面的方向上,中介层包括多个交 替的通孔层与迹线层的堆叠。
在一些实施例中,第二I/O面处的I/O的最外层为焊料层。
在一些实施例中,第一I/O面与基板连接,并且第二I/O面是通孔切面。
在一些实施例中,在垂直于第一I/O面的方向上,中介层包括多个交 替的通孔层与迹线层的堆叠。
在一些实施例中,半导体封装结构还包括模制物,模制物位于基板上 方,第一I/O面与基板连接,模制物包围中介层且暴露出第二I/O面处的 I/O。
在一些实施例中,第一I/O面与第二I/O面垂直。
根据本发明实施例的一个方面,提供了一种形成半导体封装结构的方 法,包括:形成具有通孔切面的中介层,其中,形成通孔切面包括:在中 介层中形成以多个非同心圆相互连接的方式配置的多个通孔;在与多个非 同心圆所在平面垂直的方向上,对中介层的多个通孔处进行切割以形成通 孔切面,通孔切面是中介层的第一I/O面或是与第一I/O面不平行的第二 I/O面,其中,第一I/O面处的I/O通过中介层内的线路与第二I/O面处的 I/O相互连接;通过第一I/O面将中介层电连接至基板。
在一些实施例中,通孔切面是第二I/O面,并且在将中介层电连接至 基板之后执行对中介层的切割。
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