[发明专利]半导体封装结构及其形成方法在审

专利信息
申请号: 202110919264.7 申请日: 2021-08-11
公开(公告)号: CN113851431A 公开(公告)日: 2021-12-28
发明(设计)人: 叶昶麟;黄耀霆 申请(专利权)人: 日月光半导体制造股份有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L23/498;H01L21/48;H01L21/56
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人: 章社杲;李伟
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 半导体 封装 结构 及其 形成 方法
【说明书】:

发明涉及一种半导体封装结构及其形成方法。半导体封装结构包括:基板;中介层,电连接于基板的上表面,中介层包括分别设置有I/O的第一I/O面和第二I/O面,第一I/O面与第二I/O面不平行,中介层内包括分别与第一I/O面处的I/O和第二I/O面处的I/O连接的迹线和通孔,其中,第一I/O面处的I/O或第二I/O面处的I/O中的一个是通孔切面,在俯视图中,通孔切面处的I/O是多个非同心圆通孔堆叠的一部分。

技术领域

本发明涉及半导体技术领域,更具体地,涉及一种半导体封装结构及 其形成方法。

背景技术

针对现行人体穿戴设备,主要采用两个非共平面模块设计以符合穿戴 者需求,因此当前一主要目标是如何将两个非共平面模块进行电性连接。

参考图1A和图1B所示,目前设计中的一种,主要利用软板12作为 连接两个非共平面模块14、16之间的连接件(connector)来进行接合,以 符合人体曲面穿戴需求。然而此种设计具有体积大的缺点,并且当两个模 块中的任一模块故障(fail)时存在无法模块化更换的缺点。

参考图1C、图1D和图1E所示,目前设计中的另一种,是在模块中 的非水平面上通过焊锡(solder)21(图1C)、导电架22(图1D)或是接 合引线23(图1E)作为连接件直接外接IO。此种设计虽然可以缩小连接 件体积,但此种设计方式中外接线路间的节距(pitch)太大,不符合未来 细间距需求。

发明内容

针对相关技术中的上述体积大、无法模块化更换、及线路节距太大的问题, 本发明提出一种半导体封装结构及其形成方法。

根据本发明实施例的一个方面,提供了一种半导体封装结构,包括: 基板;中介层,电连接于基板的上表面,中介层包括分别设置有I/O的第 一I/O面和第二I/O面,第一I/O面与第二I/O面不平行,中介层内包括分 别与第一I/O面处的I/O和第二I/O面处的I/O连接的迹线和通孔,其中, 第一I/O面处的I/O或第二I/O面处的I/O中的一个是通孔切面,在俯视图 中,通孔切面处的I/O是多个非同心圆通孔堆叠的一部分。

在一些实施例中,在沿着多个非同心圆堆叠的方向上,通孔切面处的 I/O具有不同的宽度。

在一些实施例中,第一I/O面与基板连接,并且第一I/O面是通孔切面。

在一些实施例中,在垂直于第二I/O面的方向上,中介层包括多个交 替的通孔层与迹线层的堆叠。

在一些实施例中,第二I/O面处的I/O的最外层为焊料层。

在一些实施例中,第一I/O面与基板连接,并且第二I/O面是通孔切面。

在一些实施例中,在垂直于第一I/O面的方向上,中介层包括多个交 替的通孔层与迹线层的堆叠。

在一些实施例中,半导体封装结构还包括模制物,模制物位于基板上 方,第一I/O面与基板连接,模制物包围中介层且暴露出第二I/O面处的 I/O。

在一些实施例中,第一I/O面与第二I/O面垂直。

根据本发明实施例的一个方面,提供了一种形成半导体封装结构的方 法,包括:形成具有通孔切面的中介层,其中,形成通孔切面包括:在中 介层中形成以多个非同心圆相互连接的方式配置的多个通孔;在与多个非 同心圆所在平面垂直的方向上,对中介层的多个通孔处进行切割以形成通 孔切面,通孔切面是中介层的第一I/O面或是与第一I/O面不平行的第二 I/O面,其中,第一I/O面处的I/O通过中介层内的线路与第二I/O面处的 I/O相互连接;通过第一I/O面将中介层电连接至基板。

在一些实施例中,通孔切面是第二I/O面,并且在将中介层电连接至 基板之后执行对中介层的切割。

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