[发明专利]一种温度检测器中消除运放输入失调影响的电路技术在审
申请号: | 202110925345.8 | 申请日: | 2021-08-12 |
公开(公告)号: | CN113624356A | 公开(公告)日: | 2021-11-09 |
发明(设计)人: | 王国瑞;张福泉;汪金铭;王圣礼 | 申请(专利权)人: | 上海旻森电子科技有限公司 |
主分类号: | G01K7/01 | 分类号: | G01K7/01;H03F3/68 |
代理公司: | 北京众允专利代理有限公司 11803 | 代理人: | 沈小青 |
地址: | 200120 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 温度 检测器 消除 输入 失调 影响 电路 技术 | ||
1.一种温度检测器中消除运放输入失调影响的电路技术,包括第一电流源(1)以及第二电流源(2),所述第一电流源(1)的输出端设有第一三极管(3),所述第二电流源(2)的输出端设有第二三极管(4),其特征在于:所述第一三极管(3)与第一电流源(1)的节点电位以及第二三极管(4)与第二电流源(2)的节点电位的输出端设有第一单刀双掷开关(5)。
2.根据权利要求1所述的一种温度检测器中消除运放输入失调影响的电路技术,其特征在于:所述第一单刀双掷开关(5)的输出端设有第一运算放大器(6),所述第一运算放大器(6)的输出端设有第二运算放大器(7),所述第二运算放大器(7)的输出端设有第二单刀双掷开关(8)。
3.根据权利要求2所述的一种温度检测器中消除运放输入失调影响的电路技术,其特征在于:所述第一三极管(3)与第一电流源(1)电性连接,所述第二三极管(4)与第二电流源(2)电性连接,所述第一单刀双掷开关(5)、第一运算放大器(6)、第二运算放大器(7)以及第二单刀双掷开关(8)之间串联。
4.根据权利要求2所述的一种温度检测器中消除运放输入失调影响的电路技术,其特征在于:所述第一运算放大器(6)的输出端设有第一电阻(12),且所述第一电阻(12)的输出端与第二运算放大器(7)电性连接,所述第一电阻(12)的输出端设有第二电阻(13),且所述第二电阻(13)与第二运算放大器(7)并联。
5.根据权利要求2所述的一种温度检测器中消除运放输入失调影响的电路技术,其特征在于:所述第一单刀双掷开关(5)以及第二单刀双掷开关(8)的输出端设有振荡器(9),且所述第一单刀双掷开关(5)以及第二单刀双掷开关(8)均与振荡器(9)信号连接。
6.根据权利要求2所述的一种温度检测器中消除运放输入失调影响的电路技术,其特征在于:所述第二单刀双掷开关(8)的输出端设有模数转换器(10),所述模数转换器(10)的输出端设有寄存器/数字减法器(11),且所述寄存器/数字减法器(11)与模数转换器(10)电性连接,所述模数转换器(10)与第二单刀双掷开关(8)电性连接。
7.根据权利要求4所述的一种温度检测器中消除运放输入失调影响的电路技术,其特征在于:所述第一运算放大器(6)的正极与第一单刀双掷开关(5)的输出端电性连接,所述第一运算放大器(6)的负极与输出端相连接,所述第一电阻(12)的输出端与第二电阻(13)的输入端连接,所述第二运算放大器(7)的负极与第一电阻(12)电性连接。
8.根据权利要求4所述的一种温度检测器中消除运放输入失调影响的电路技术,其特征在于:所述第二运算放大器(7)的正极接入节点电位,所述第二运算放大器(7)与第二电阻(13)并联。
9.根据权利要求2所述的一种温度检测器中消除运放输入失调影响的电路技术,其特征在于:所述第一单刀双掷开关(5)以及第二单刀双掷开关(8)电路在φ时段计算表达式为:
由表达式(1)可算出:
10.根据权利要求9所述的一种温度检测器中消除运放输入失调影响的电路技术,其特征在于:所述第一单刀双掷开关(5)以及第二单刀双掷开关(8)电路在/φ时段计算表达式为:
由表达式(3)算出:
由表达式(2)和(4)算出:
由表达式(5)中可见,第一运算放大器6以及第二运算放大器7的输入失调电压Vos1及Vos2在运算过程中被消除。
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