[发明专利]一种温度检测器中消除运放输入失调影响的电路技术

说明书

本发明公开了一种温度检测器中消除运放输入失调影响的电路技术，包括第一电流源以及第二电流源，所述第一电流源的输出端设有第一三极管，所述第二电流源的输出端设有第二三极管，所述第一三极管与第一电流源的节点电位以及第二三极管与第二电流源的节点电位的输出端设有第一单刀双掷开关。本发明在不需要添加额外的复杂功能电路及功耗开销的前提下，精确地消除了两个运放输入失调误差对检测精度所造成的影响，该结构在不添加额外功能模块及功耗开销的前提下，有效消除运放输入失调对检测精度所造成的影响，从而降低额外电路及功耗开销，芯片面积及功耗显著降低。

技术领域

本发明涉及温度检测器技术领域，更具体地说，本发明涉及一种温度检测器中消除运放输入失调影响的电路技术。

背景技术

高精度温度检测器芯片一般是利用“两个不同尺寸的双极型晶体管(发射极面积比例为1:n)流过相等大小(或成一定比例倍数)的电流时，它们的基极-发射极电压(VBE)的差值(⊿VBE)与绝对温度成正比”的特性，输出一个随温度成正比例变化的电压值，经过运算放大器进行适当放大后，再将其与预先标定好的温度-电压曲线作比对，用于衡量芯片温度的实际值；

上述⊿VBE值在全温度范围内(比如-40℃至130℃)随温度变化一般约几十毫伏量级，但是在CMOS制程工艺中运算放大器的输入失调电压(VOS)一般在几个毫伏量级，若直接用差分运算放大器对两个不同三极管的VBE值进行作差处理，则误差值大小与VBE的绝对值相比不可忽略，影响温度检测精度，且运算放大器的输入失调电压VOS值具有温漂效应，进一步引入了输出电压曲线的温度非线性。

现有技术存在以下不足：现有技术采用运放输入失调抵消技术解决温漂效应的问题，但是此类技术需要增加额外电路及功耗开销，导致芯片面积及功耗显著增加。

发明内容

为了克服现有技术的上述缺陷，本发明的实施例提供一种温度检测器中消除运放输入失调影响的电路技术，在不添加额外功能模块及功耗开销的前提下，有效消除运放输入失调对检测精度所造成的影响，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：包括第一电流源以及第二电流源，所述第一电流源的输出端设有第一三极管，所述第二电流源的输出端设有第二三极管，所述第一三极管与第一电流源的节点电位以及第二三极管与第二电流源的节点电位的输出端设有第一单刀双掷开关。

在一个优选的实施方式中，所述第一单刀双掷开关的输出端设有第一运算放大器，所述第一运算放大器的输出端设有第二运算放大器，所述第二运算放大器的输出端设有第二单刀双掷开关，由电流镜产生的两路大小相等的电流Is分别灌入三极管Q1和Q0的集电极，产生两个节点电位VBE1和VBE0，VBE1VBE0分别与单刀双掷开关SPDT1的两个输入端相连接，单刀双掷开关SPDT1的选通控制信号由振荡器OSC输出的方波脉冲信号所控制，其输出端与运算放大器OP1的正相输入端相连接，运算放大器OP1的反相输入端与自身输出端相连接(即连接成单位增益负反馈形式)，其输出端与电阻R0一端相连，电阻R0的另一端与运算放大器的反相输入端及电阻R1的一端相连接。