[发明专利]坏点检测方法、装置、电子设备和存储介质在审
申请号: | 202110937969.1 | 申请日: | 2021-08-16 |
公开(公告)号: | CN113674238A | 公开(公告)日: | 2021-11-19 |
发明(设计)人: | 李骏;杨志强;刘晓沐 | 申请(专利权)人: | 浙江大华技术股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/73;G06T5/00 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 张洁 |
地址: | 310053 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种坏点检测方法,其特征在于,所述方法包括:
根据目标图像中的像素点确定第一窗口和第二窗口,其中所述第一窗口和所述第二窗口的中心为目标像素点;
根据所述第一窗口内的像素点的灰度值确定局部方差;
根据第二窗口内的像素点的灰度值,确定所述第二窗口内的各个像素点的灰度值分别与所述目标像素点的灰度值的比较结果;
根据所述比较结果和指定阈值确定所述目标像素点是否为坏点,其中指定阈值是所述局部方差所属的预设范围对应的数值,所述指定阈值表征所述目标像素点与坏点的差异度。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述比较结果和指定阈值确定所述目标像素点是否为坏点,包括:
将所述第二窗口内的各个像素点按照与所述目标像素点的位置关系进行排序,依序得到第一差值;
将所述各个第一差值按照对应的像素点与所述目标像素点的位置关系排序得到第一差值序列;
若所述第一差值序列中的每对差值的乘积均大于第一预设值,且所述第一最小值大于所述指定阈值,则所述目标像素点为坏点;其中:所述第一最小值为所述第一差值的绝对值中的最小值;所述每对差值在所述第一差值序列中的位置是轴对称。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述比较结果和指定阈值确定所述目标像素点是否为坏点,包括:
确定所述第二窗口中位于边界位置的像素点的灰度值中的最大值和第二最小值;
若所述目标像素点的灰度值大于所述最大值或小于所述第二最小值,第三最小值大于所述指定阈值,且所述最大值和所述第二最小值的差值小于所述指定阈值,则所述目标点为坏点;
其中:所述第二差值为所述目标像素点的灰度值与所述最大值的差值;所述第三差值为所述目标像素点的灰度值与所述第二最小值的差值;所述第三最小值为所述第二差值和所述第三差值中的绝对值中的最小值。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据目标图像中的像素点确定第一窗口和第二窗口,包括:
若所述第一窗口中部分位置不在所述目标图像中,则以所述像素点为中心对称点,将所述目标图像中位于所述第一窗口中的像素点中心对称至所述第一窗口中的部分位置;
若所述第二窗口中部分位置不在所述目标图像中,则以所述像素点为中心对称点,将所述目标图像中位于所述第二窗口中的像素点中心对称至所述第二窗口中的部分位置。
5.根据权利要求1~4任一所述的方法,其特征在于,所述指定阈值包括:第一指定阈值和第二指定阈值,其中:
所述第一指定阈值是根据所述局部方差所属的第一预设范围对应的第一指定值,所述第一指定阈值表征所述目标像素点与坏点的第一差异度;
所述第二指定阈值是根据所述局部方差所属的第二预设范围对应的第二指定值,所述第二指定阈值表征所述目标像素点与坏点的第二差异度。
6.一种坏点检测装置,其特征在于,所述装置包括:
窗口确定模块,用于根据目标图像中的像素点确定第一窗口和第二窗口,其中所述第一窗口和所述第二窗口的中心为目标像素点;
局部方差确定模块,用于根据所述第一窗口内的像素点的灰度值确定局部方差;
比较结果确定模块,用于根据第二窗口内的像素点的灰度值,确定所述第二窗口内的各个像素点的灰度值分别与所述目标像素点的灰度值的比较结果;
坏点确定模块,用于根据所述比较结果和指定阈值确定所述目标像素点是否为坏点,其中指定阈值是所述局部方差所属的预设范围对应的数值,所述指定阈值表征所述目标像素点与坏点的差异度。
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