[发明专利]坏点检测方法、装置、电子设备和存储介质

说明书

本申请实施例提供了一种坏点检测方法、装置、电子设备和存储介质。用于检测出图像中的坏点。本申请实施例中，根据目标图像中的像素点确定以目标像素点为中心的第一窗口和第二窗口；根据第一窗口内的像素点的灰度值确定局部方差；并根据第二窗口内的像素点的灰度值，确定第二窗口内的各个像素点的灰度值分别与目标像素点的灰度值的第一差值；根据第一差值和第一比较结果确定目标像素点是否为坏点。

技术领域

本申请涉图像处理技术领域，尤其涉及一种坏点检测方法、装置、电子设备和存储介质。

背景技术

红外热成像技术凭借其不受光照因素影响，穿透能力强等优点，被广泛应用于安防、军事、医疗等领域。但由于红外焦平面阵列制造工艺的不成熟，往往红外探测中一些像元的响应率会存在异常，在其输出的图像序列中形成过亮、过暗、明暗闪烁等形式的坏点。因此，需要对红外图像中的坏点进行检测以及去除，消除其对成像效果的影响。

发明内容

本申请的目的是提供一种坏点检测方法、装置、电子设备和存储介质，用于检测出图像中的坏点。

第一方面，本申请实施例提供了一种坏点检测的方法，包括：

根据目标图像中的像素点确定第一窗口和第二窗口，其中所述第一窗口和所述第二窗口的中心为目标像素点；

根据所述第一窗口内的像素点的灰度值确定局部方差；

根据第二窗口内的像素点的灰度值，确定所述第二窗口内的各个像素点的灰度值分别与所述目标像素点的灰度值的比较结果；

根据所述比较结果和指定阈值确定所述目标像素点是否为坏点，其中指定阈值是所述局部方差所属的预设范围对应的数值，所述指定阈值表征所述目标像素点与坏点的差异度。

本申请实施例中根据局部方差灵活设置指定阈值，同一画面内不同区域的数据具有特性差异，常来说局部方差较小的可认为是均匀区域，该区域各像素点灰度值接近，若指定阈值太大则无法有效检测出坏点；局部方差较大的可认为是细节区域，该区域有较多有用信息，若指定阈值太小则会造成坏点误检，甚至会损失有用信息，因此本申请中灵活的设置指定阈值，可以获得更优的自适应性，减少了误检和漏检，提高了坏点识别的准确性。

在一个可能的实施例中，所述根据所述比较结果和指定阈值确定所述目标像素点是否为坏点，包括：

将所述第二窗口内的各个像素点按照与所述目标像素点的位置关系进行排序，依序得到第一差值；

将所述各个第一差值按照对应的像素点与所述目标像素点的位置关系排序得到第一差值序列；

若所述第一差值序列中的每对差值的乘积均大于第一预设值，且所述第一最小值大于所述指定阈值，则所述目标像素点为坏点；其中：所述第一最小值为所述第一差值的绝对值中的最小值；所述每对差值在所述第一差值序列中的位置是轴对称。

本申请实施例中，通过设置不同大小的第二窗口，采用极值的方式进行坏点检测，更全面的考虑了坏点的形式，减少了漏检的发生。

在一个可能的实施例中，所述根据所述比较结果和指定阈值确定所述目标像素点是否为坏点，包括：

确定所述第二窗口中位于边界位置的像素点的灰度值中的最大值和第二最小值；

若所述目标像素点的灰度值大于所述最大值或小于所述第二最小值，第三最小值大于所述指定阈值，且所述最大值和所述第二最小值的差值小于所述指定阈值，则所述目标点为坏点；

其中：所述第二差值为所述目标像素点的灰度值与所述最大值的差值；所述第三差值为所述目标像素点的灰度值与所述第二最小值的差值；所述第三最小值为所述第二差值和所述第三差值中的绝对值中的最小值。