[发明专利]一种半导体圆晶烘干装置在审
申请号: | 202110939768.5 | 申请日: | 2021-08-16 |
公开(公告)号: | CN113851394A | 公开(公告)日: | 2021-12-28 |
发明(设计)人: | 向宇;向国清 | 申请(专利权)人: | 芷江积成电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/677;H01L21/683 |
代理公司: | 长沙明新专利代理事务所(普通合伙) 43222 | 代理人: | 徐新 |
地址: | 410102 湖南省怀化市*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 烘干 装置 | ||
1.一种半导体圆晶烘干装置,其特征在于,包括无尘烘干室(1),无尘烘干室(1)内安装有轨道(2),轨道(2)上安装有滑动小车(3),滑动小车(3)上连接有竖向伸缩装置(4),竖向伸缩装置(4)连接有横向伸缩装置(5),横向伸缩装置(5)上安装有负压吸取装置(6);所述无尘烘干室(1)中部安装有若干烘干架(7),无尘烘干室(1)一端安装有进料盘(8),另一端安装有出料盘(9),进料盘(8)和出料盘(9)均连接有伸拉装置(10);所述烘干架(7)均包括自上到下设置的料板(11),料板(11)上成形有若干圆晶放置槽(12)。圆晶放置槽(12)底部成形有若干透气孔(13)。
2.如权利要求1所述的半导体圆晶烘干装置,其特征在于,所述圆晶放置槽(12)底部提起成形有若干凸块(14)。
3.如权利要求2所述的半导体圆晶烘干装置,其特征在于,所述凸块(14)至少为三个。
4.如权利要求1所述的半导体圆晶烘干装置,其特征在于,所述竖向伸缩装置(4)、横向伸缩装置(5)和伸拉装置(10)均为气缸或丝杆机构。
5.如权利要求1所述的半导体圆晶烘干装置,其特征在于,所述负压吸取装置(6)包括吸盘(61),吸盘(61)连通有气管(62),气管(62)连通有负压泵(63)。
6.如权利要求5所述的半导体圆晶烘干装置,其特征在于,所述吸盘(61)的边缘固定有弹性环(64)。
7.如权利要求1所述的半导体圆晶烘干装置,其特征在于,所述进料盘(8)和出料盘(9)处安装有门。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造