[发明专利]一种计量芯片的抗干扰检测系统及计算机可读存储介质有效

专利信息
申请号: 202110939875.8 申请日: 2021-08-17
公开(公告)号: CN113406483B 公开(公告)日: 2021-10-29
发明(设计)人: 向德;李庆先;刘良江;朱宪宇;王晋威;刘青;左从瑞;王柠莎;熊婕 申请(专利权)人: 湖南省计量检测研究院
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京清控智云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11919 代理人: 马肃
地址: 410014 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 计量 芯片 抗干扰 检测 系统 计算机 可读 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种计量芯片的抗干扰检测系统,其特征在于,包括依次通讯连接的待测模块、干扰模块、标准计量模块和对比模块,所述待测模块提供待测信号,所述待测信号分别输入至计量芯片和所述标准计量模块,所述干扰模块对所述计量芯片提供干扰因素,所述对比模块通过分析计量芯片和所述标准计量模块的输出信号得到计量芯片的抗干扰能力;

其中,所述系统的抗干扰检测包括如下步骤,所述待测模块的输出信号为A(t),计量芯片输出的信号为B(t),所述标准计量模块输出的信号为C(t),计算间隔时间内的干扰差异值:

改变输出信号A(t),计算干扰点值:

其中n为所述输出信号A(t)的个数;

改变干扰因素的值,获取n个干扰点值,计算抗干扰指数:

其中,为干扰点值最小值对应的干扰因素值;

所述干扰模块对计量芯片造成的干扰因素包括温度、湿度、振动以及干扰信号,分别计算出其抗干扰指数值为和,最终的综合抗干扰指数Q为:

其中,和为比重系数,通过实际测试得到且满足:。

2.如权利要求1所述的一种计量芯片的抗干扰检测系统,其特征在于,所述待测模块包括信号产生单元、信号控制单元和信号输出单元,所述信号产生单元能够生成正弦或者余弦信号,所述信号控制单元对生成的信号作变化处理,所述信号输出单元将所述信号控制单元处理后的信号稳定输出。

3.如权利要求2所述的一种计量芯片的抗干扰检测系统,其特征在于,所述信号产生单元包括依次电连接的配置电路、三角函数信号发生电路和载波控制电路,所述配置电路为所述三角函数信号发生电路提供电能,所述载波控制电路用于控制产生的三角函数信号。

4.如权利要求3所述的一种计量芯片的抗干扰检测系统,其特征在于,所述信号控制单元包括依次电连接的数模转换电路、模拟乘法电路和功率放大调整电路,所述数模转换电路将载波控制后的数字信号转换成模拟信号,所述模拟乘法电路和功率放大调整电路对所述模拟信号进行调整处理。

5.如权利要求4所述的一种计量芯片的抗干扰检测系统,其特征在于,所述信号输出单元包括相互电连接的信号输出接口和隔离电路,所述隔离电路连接在所述功率放大调整信号与所述信号输出单元接口之间,用于减弱其他电路对输出信号的影响。

6.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质中包括计量芯片的抗干扰检测系统程序,所述计量芯片的抗干扰检测系统程序被处理器执行时,实现如权利要求1所述的一种计量芯片的抗干扰检测系统检测步骤。

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