[发明专利]一种计量芯片的抗干扰检测系统及计算机可读存储介质

说明书

本发明提供了一种计量芯片的抗干扰检测系统及计算机可读存储介质，包括待测模块、信号输入模块、干扰模块、信号输出模块、标准计量模块和对比模块，所述待测模块提供待测信号，所述信号输入模块输入端和所述待测模块连接，所述信号输入模块输出端分别连接至计量芯片和所述标准计量模块，所述干扰模块装于计量芯片外侧用于提供干扰因素，所述信号输出模块输入端分别与计量芯片和所述标准计量模块连接，所述信号输出模块输出端与所述对比模块连接，所述对比模块通过分析接收的两个信号差别得到计量芯片的抗干扰能力。本发明通过分析在各种干扰情况下计量芯片的输出值与标准计量模块输出值之间的关系得到其抗干扰能力，涵盖范围广，适用性强。

技术领域

本发明涉及芯片检测技术领域，尤其涉及一种计量芯片的抗干扰检测系统。

背景技术

计量芯片能够根据输入的信号对某一类特定的数据进行测量，但是测量结果会收到外部因素的干扰而造成测量不准确，抗干扰检测系统能够对计量芯片的抗干扰能力作出评估，并检测出适宜工作环境及安全范围，为后续对计量芯片的环境设计提供参考。

现在已经开发出了很多抗干扰检测系统，经过我们大量的检索与参考，发现现有的检测系统有如公开号为CN104635190A所公开的系统，包括如下步骤：1)读取校表参数校验和寄存器的值，并与备份的值进行比较，若相等，则不作处理，若不相等，则进入步骤2)；2)再次读取校表参数校验和寄存器的值，先与备份的值进行比较，若相等，则不作处理，若不相等，则进入步骤3)；3)将两次读取到的校表参数校验和寄存器的值进行比较，若相等，则复位该计量芯片，若不相等，则不作处理。但该系统不能对各种干扰因素下的抗干扰能力作出检测，同时检测对象较单一，适用性弱。

发明内容

本发明的目的在于，针对所存在的不足，提出了一种计量芯片的抗干扰检测系统，

本发明采用如下技术方案：

一种计量芯片的抗干扰检测系统，括待测模块、干扰模块、标准计量模块和对比模块，所述待测模块提供待测信号，所述待测信号分别输入至计量芯片和所述标准计量模块，所述干扰模块对所述计量芯片提供干扰因素，所述对比模块通过分析计量芯片和所述标准计量模块的输出信号得到计量芯片的抗干扰能力；

进一步的，所述待测模块包括信号产生单元、信号控制单元和信号输出单元，所诉信号产生单元能够生成正弦或者余弦信号，所述信号控制单元对生成的信号作变化处理，所述信号输出单元将处理后的信号稳定输出；

进一步的，所述信号产生单元包括配置电路、三角函数信号发生电路和载波控制电路，所述配置电路为所述三角函数信号发生电路提供电能，所述载波控制电路用于控制产生的三角函数信号；

进一步的，所述信号控制单元包括数模转换电路、模拟乘法电路和功率放大调整电路，所述数模转换电路将载波控制后的数字信号转换成模拟信号，所述模拟乘法电路和功率放大调整电路对所述模拟信号进行调整处理；

进一步的，所述信号输出单元包括信号输出接口和隔离电路，所述隔离电路连接在所述功率放大调整信号与所述信号输出接口之间用于减弱其他电路对输出信号的影响；

进一步的，所述待测模块的输出信号为A(t)，计量芯片输出的信号为B(t)，所述标准计量芯片输出的信号为C(t)，计算间隔时间ΔT内的干扰差异值S_干扰：

改变输出信号A(t)，计算干扰点值P_干扰：

其中n为所述输出信号A(t)的个数；

进一步的，改变干扰因素的值Y_i，获取n个干扰点值P(Y_i)，计算抗干扰指数Q_干扰：

其中，Y′为干扰点值最小值对应的干扰因素值；