[发明专利]一种电路板及检测系统

权利要求书

1.一种用于探针测试的电路板，其特征在于，所述电路板包括：

表层地；

馈线，所述馈线被所述表层地包围，用于传输信号；

测试部，所述测试部与所述馈线电性连接，用于扎探针进行测试；

其中，沿所述测试部的周围，所述表层地设置有挖空结构；

所述电路板还包括次表层地，沿所述电路板的厚度方向，所述次表层地位于表层地下方；

所述次表层地包括第一导电部和第二导电部，所述第一导电部位于所述测试部远离所述馈线的一端，在沿所述电路板的厚度方向的投影中，所述第二导电部位于所述测试部的投影范围内。

2.根据权利要求1所述的电路板，其特征在于，所述表层地的至少部分位于所述测试部远离所述馈线的一端。

3.根据权利要求1所述的电路板，其特征在于，所述次表层地在所述测试部靠近所述馈线的一端设置有所述挖空结构。

4.根据权利要求1所述的电路板，其特征在于，沿靠近所述测试部中心的方向，所述第二导电部的面积逐渐减小。

5.根据权利要求1所述的电路板，其特征在于，所述第二导电部的面积小于所述测试部的面积。

6.根据权利要求1所述的电路板，其特征在于，在所述表层地上设置有测试接地部，所述测试接地部设置在远离所述馈线的一端。

7.根据权利要求6所述的电路板，其特征在于所述电路板还包括补焊部，沿所述电路板的宽度方向，所述补焊部与所述测试部之间具有第一间距，沿所述电路板的长度方向，所述测试接地部与所述测试部之间具有第二间距；

所述第一导电部位于所述测试部与所述测试接地部之间，所述馈线位于所述测试部远离所述测试接地部的一端。

8.根据权利要求7所述的电路板，其特征在于，所述馈线与所述电路板的宽度方向具有夹角。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的电路板，其特征在于，所述挖空结构包括第一挖空结构和第二挖空结构，沿所述馈线的宽度方向，所述第一挖空结构和所述第二挖空结构分别位于所述馈线的相对两侧。

10.根据权利要求1至8中任一项所述的电路板，其特征在于，所述挖空结构的面积为m，所述测试部的面积为n，且n≥m≥0.3n。

11.根据权利要求1至8中任一项所述的电路板，所述的电路板，其特征在于，所述电路板还包括容性补偿结构，所述容性补偿结构与所述馈线电性连接。

12.根据权利要求1至8中任一项所述的电路板，其特征在于，所述馈线包括连接段和补偿段，所述连接段与所述测试部电性连接，所述补偿段与所述连接段电性连接；

所述补偿段的宽度大于所述连接段的宽度。

13.一种检测系统，其特征在于，所述检测系统包括探针和电路板，所述探针用于检测所述电路板；

其中，所述电路板为权利要求1至12中任一项所述的电路板。