[发明专利]一种电路板及检测系统

说明书

本申请涉及一种电路板及检测系统，其中，电路板包括表层地、馈线和测试部，馈线和测试部电性连接，测试部用于与探针接触，馈线用于传输信号，表层地在测试部靠近馈线的一端设置有挖空结构。通过这样的设计，当探针的落点靠近馈线时，能够减小探针与表层地所构成的电容，从而降低电容对于检测结果的影响，提升检测结果的准确性。

技术领域

本申请涉及电子元件技术领域，尤其涉及一种电路板及检测系统。

背景技术

随着技术的发展，各种电子产品已经成为人们生活中常用的电子设备，电子设备的电路板在使用时需要对功率、灵敏度等数据进行检测并校准，在检测时，测试探针的落点位置会存在一定的公差，导致检测数据存在波动，影响检测结果的准确性，为提升检测结果的准确性，通常在电路板设置有测试座，通过测试座对测试探针进行限位，从而降低测试探针落点的离散性，从而降低波动，但是在电路板设置测试座需要占用电路板的空间，导致电路板体积增大。

发明内容

本申请提供了一种电路板及检测系统，用于提供一种新的电路板检测方案。

本申请提供了一种用于探针测试的电路板，所述电路板包括：

表层地；

馈线，所述馈线被所述表层地包围，用于传输信号；

测试部，所述测试部与所述馈线电性连接，用于扎探针进行测试；

其中，沿所述测试部的周围，所述表层地设置有挖空结构。

在测试时，当探针与测试部的接触位置越靠近馈线时，探针与表层地所构成的电容越大，当探针与测试部的接触位于远离馈线时，探针与表层地所构成的电容越小，在测试时，由于探针每次的落点不同，所以并联于等效电路中的电容也不同，因此，得到的检测结果受探针与测试部所构成的电容的影响，波动较大，导致准确性下降。本申请实施例所提供的方案通过在表层地挖空形成挖空结构，从而降低探针在靠近馈线的位置与表层地构成电容的可能，以减小探针靠近馈线时与表层地所构成的电筒，从而降低电容对于测试结果的影响。

在一种可能的实施方式中，所述表层地的至少部分位于所述测试部远离所述馈线的一端。

通过这样的设计能够便于在探针的落点远离馈线时，探针能够与表层地构成电容，当探针的落点靠近馈线时，探针与表层地之间的距离逐渐增加，所构成的电容逐渐减小，由于降低电容的变化对于检测结果的影响。

在一种可能的实施方式中，所述电路板还包括次表层地，沿所述电路板的厚度方向，所述次表层地位于表层地下方，并且所述次表层地在所述测试部靠近所述馈线的一端设置有所述挖空结构。

通过对次表层地也进行挖空处理。以在探针的落点靠近馈线时，减小次表层地与探针所构成的电容，从而降低电容对于检测结果的影响。

在一种可能的实施方式中，所述次表层地包括第一导电部和第二导电部，所述第一导电部位于所述测试部远离所述馈线的一端，在沿所述电路板的厚度方向的投影中，所述第二导电部位于所述测试部的投影范围内。

通过采用本申请实施例所提供的方案，可以不在电路板设置用于限制探针的测试座，从而能够减少电路板的结构，有利于减小电路板的体积。当探针偏离测试部的中心位置时，第一电容和第二电容的大小也会分别发生变化，等效电路中的总电容保持不变或变化幅度较小，从而能够减小检测结果的波动，有利于提升检测结果的准确性。

在一种可能的实施方式中，沿靠近所述测试部中心的方向，所述第二导电部的面积逐渐减小。