[发明专利]一种实现硬盘测试的方法、装置、计算机存储介质及终端

权利要求书

1.一种实现硬盘测试的方法，包括：

统计向固态硬盘SSD写入第一预设数量的第一数据时的写入速度；

根据统计的写入速度确定SSD的单层单元SLC高速缓冲的性能；

其中，所述第一预设数量的取值大于所述SSD的SLC高速缓冲大小的数值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据统计的写入速度确定SSD的SLC高速缓冲的性能，包括：

将所述写入速度与预设的与非门NAND读写理论速度值进行比对，获得比对结果；

根据所述比对结果确定所述SLC高速缓冲的性能。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述统计向SSD写入第一预设数量的第一数据时的写入速度之后，所述方法还包括：

删除写入SSD的所述第一数据。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

记录从所述向SSD写入所述第一数据到所述删除写入SSD的所述第一数据的第一时间长度；

统计向SSD写入第二预设数量的第二数据的写入速度，删除写入SSD的所述第二数据，记录从所述向SSD写入所述第二数据到所述删除写入SSD的所述第二数据的第二时间长度，将所述第二时间长度与所述第一时长长度相加，获得时间总长度；所述时间总长度小于预设时长时，继续执行：统计向SSD写入所述第二数据的写入速度，删除写入SSD的所述第二数据，记录从所述向SSD写入所述第二数据到所述删除写入SSD的所述第二数据的第二时间长度，将所述第二时间长度累加至所述时间总长度；直至累加获得的所述时间总长度大于或等于所述预设时长时停止；

根据统计的向SSD写入所述第一数据的写入速度和向SSD写入所述第二数据的写入速度，确定所述SSD的压力测试结果。

5.一种计算机存储介质，所述计算机存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1～4中任一项所述的实现硬盘测试的方法。

6.一种终端，包括：存储器和处理器，所述存储器中保存有计算机程序；其中，

处理器被配置为执行存储器中的计算机程序；

所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1～4中任一项所述的实现硬盘测试的方法。

7.一种实现硬盘测试的装置，包括：统计单元和确定单元；其中，

统计单元设置为：统计向固态硬盘SSD写入第一预设数量的第一数据时的写入速度；

确定单元设置为：根据统计的写入速度确定SSD的SLC高速缓冲的性能；

其中，所述第一预设数量的取值大于所述SSD的SLC高速缓冲大小的数值。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述确定单元是设置为：

将所述写入速度与预设的与非门NAND读写理论速度值进行比对，获得比对结果；

根据所述比对结果确定所述SLC高速缓冲的性能。

9.根据权利要求7或8所述的装置，其特征在于，所述装置还包括删除单元，设置为：

删除写入所述SSD的所述第一数据。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述装置还包括记录单元；

记录单元设置为：记录从所述向SSD写入所述第一数据到所述删除写入SSD的所述第一数据的第一时间长度；记录从所述向SSD写入所述第二数据到所述删除写入SSD的所述第二数据的第二时间长度，将所述第二时间长度与所述第一时长长度相加，获得时间总长度；继续执行统计向SSD写入所述第二数据的写入速度时，记录从所述向SSD写入所述第二数据到所述删除写入SSD的所述第二数据的第二时间长度，将所述第二时间长度累加至所述时间总长度；直至累加获得的所述时间总长度大于或等于所述预设时长时停止；

所述统计单元还设置为：统计向SSD写入第二预设数量的第二数据的写入速度，删除写入SSD的所述第二数据；所述时间总长度小于预设时长时，继续执行：统计向SSD写入所述第二数据的写入速度；

所述删除单元还设置为：删除写入SSD的所述第二数据；

所述确定单元还设置为：记录单元确定的累加获得的所述时间总长度大于或等于所述预设时长时，根据统计的向SSD写入所述第一数据的写入速度和向SSD写入所述第二数据的写入速度，确定所述SSD的压力测试结果。