[发明专利]一种实现硬盘测试的方法、装置、计算机存储介质及终端

说明书

本文公开一种实现硬盘测试的方法、装置、计算机存储介质及终端，包括：统计向固态硬盘(SSD)写入第一预设数量的第一数据时的写入速度；根据统计的写入速度确定SSD的单层单元(SLC)高速缓冲的性能；其中，第一预设数量的取值大于SSD的SLC高速缓冲大小的数值本发明实施例仅向SSD进行大于SLC高速缓冲大小的数据的写入，避免了由于遍历测试造成的时间消耗和人力资源消耗，通过向SSD写入预设数值的数据时的写入速度，确定SSD的SLC高速缓冲的性能，提升了固态硬盘的测试效率。

技术领域

本文涉及但不限于硬盘测试技术，尤指一种实现硬盘测试的方法、装置、计算机存储介质及终端。

背景技术

固态硬盘(SSD)工作时内部需要使用闪存转换层(FTL，Flash TranslationLayer)算法，FTL算法主要用于完成主机(Host)的逻辑地址到闪存(Flash) 的物理地址的转换，其复杂度在于对不同与非门闪存(NAND)颗粒的支持采用不同的算法策略，不同NAND颗粒表现不同的应用特征，因此，SSD的研发和量产测试一直都很困难。

目前，为了满足SSD研发和量产，一般都通过加大样本量和测试时长来获得满足可靠性和稳定性的测试，包括：SLC高速缓冲的性能测试和SSD的压力测试等；测试时基于黑盒原理对SSD进行遍历测试，需要技术人员编辑大量测试用例，测试时长一般需要持续半年以上，当SSD固件进行了迭代更新，则必须重新进行测试。

上述方法测试时间长、需要耗费大量的人力资源，测试效率低，影响了 SSD的研发与应用。

发明内容

以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。

本发明实施例提供一种实现硬盘测试的方法、装置、计算机存储介质及终端，能够降低硬盘测试的时间和人力资源消耗，提升固态硬盘的测试效率。

本发明实施例提供了一种实现硬盘测试的方法，包括：

统计向固态硬盘SSD写入第一预设数量的第一数据时的写入速度；

根据统计的写入速度确定SSD的单层单元SLC高速缓冲的性能；

其中，所述第一预设数量的取值大于所述SSD的SLC高速缓冲大小的数值。

另一方面，本发明实施例还提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述实现硬盘测试的方法。

再一方面，本发明实施例还提供一种终端，包括：存储器和处理器，所述存储器中保存有计算机程序；其中，

处理器被配置为执行存储器中的计算机程序；

所述计算机程序被所述处理器执行时实现如上述实现硬盘测试的方法。

还一方面，本发明实施例还提供一种实现硬盘测试的装置，包括：统计单元和确定单元；其中，

统计单元设置为：统计向固态硬盘SSD写入第一预设数量的第一数据时的写入速度；

确定单元设置为：根据统计的写入速度确定SSD的SLC高速缓冲的性能；

其中，所述第一预设数量的取值大于所述SSD的SLC高速缓冲大小的数值。

本申请技术方案包括：统计向固态硬盘(SSD)写入第一预设数量的第一数据时的写入速度；根据统计的写入速度确定SSD的单层单元(SLC)高速缓冲的性能；其中，第一预设数量的取值大于SSD的SLC高速缓冲大小的数值本发明实施例仅向SSD进行大于SLC高速缓冲大小的数据的写入，避免了由于遍历测试造成的时间消耗和人力资源消耗，通过向SSD写入预设数值的数据时的写入速度，确定SSD的SLC高速缓冲的性能，提升了固态硬盘的测试效率。