[发明专利]电缆绝缘层老化程度的测试方法和装置

权利要求书

1.一种电缆绝缘层老化程度的测试方法，其特征在于，包括：

测试至少三个直流偏压下待测试电缆绝缘层的介电常数，得到至少三个目标介电常数；

根据所述直流偏压和所述目标介电常数确定所述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率，所述介电常数的变化率用于表征所述待测试电缆绝缘层的老化程度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，测试至少三个直流偏压下待测试电缆绝缘层的介电常数，包括：

获取测试样品，所述测试样品为待测试电缆绝缘层和分别贴附在第一表面和第二表面的两个金属电极形成的，所述第一表面和所述第二表面为所述待测试电缆绝缘层的厚度方向相对的两个表面；

依次将至少三个所述直流偏压施加在所述测试样品的两个所述金属电极上，测试得到至少三个所述目标介电常数。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述直流偏压和所述目标介电常数确定所述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率，包括：

根据至少三个所述直流偏压和所述待测试电缆绝缘层的厚度计算得到至少三个电场强度，所述电场强度为所述直流偏压和所述厚度的比值；

根据至少三个所述电场强度和对应的所述目标介电常数确定散点图，所述散点图为所述电场强度和所述目标介电常数的散点图；

对所述散点图进行线性拟合，得到拟合直线；

计算所述拟合直线的斜率，得到所述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率。

4.一种电缆绝缘层老化程度的测试装置，其特征在于，包括：

测试单元，用于测试至少三个直流偏压下待测试电缆绝缘层的介电常数，得到至少三个目标介电常数；

确定单元，用于根据所述直流偏压和所述目标介电常数确定所述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率，所述介电常数的变化率用于表征所述待测试电缆绝缘层的老化程度。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，测试至少三个直流偏压下待测试电缆绝缘层的介电常数，包括：

获取模块，用于获取测试样品，所述测试样品为待测试电缆绝缘层和分别贴附在第一表面和第二表面的两个金属电极形成的，所述第一表面和所述第二表面为所述待测试电缆绝缘层的厚度方向相对的两个表面；

测试模块，用于依次将至少三个所述直流偏压施加在所述测试样品的两个所述金属电极上，测试得到至少三个所述目标介电常数。

6.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，根据所述直流偏压和所述目标介电常数确定所述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率，包括：

第一计算模块，用于根据至少三个所述直流偏压和所述待测试电缆绝缘层的厚度计算得到至少三个电场强度，所述电场强度为所述直流偏压和所述厚度的比值；

确定模块，用于根据至少三个所述电场强度和对应的所述目标介电常数确定散点图，所述散点图为所述电场强度和所述目标介电常数的散点图；

处理模块，用于对所述散点图进行线性拟合，得到拟合直线；

第二计算模块，用于计算所述拟合直线的斜率，得到所述待测试电缆绝缘层的介电常数的变化率。

7.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质包括存储的程序，其中，所述程序执行权利要求1至3任意一项所述的测试方法。

8.一种处理器，其特征在于，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行权利要求1至3中任意一项所述的测试方法。