[发明专利]一种对PMEM内存进行分等级评价的方法及装置有效
申请号: | 202110959424.0 | 申请日: | 2021-08-20 |
公开(公告)号: | CN113782086B | 公开(公告)日: | 2023-08-08 |
发明(设计)人: | 梁恒勋 | 申请(专利权)人: | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
主分类号: | G11C29/08 | 分类号: | G11C29/08 |
代理公司: | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人: | 张营磊 |
地址: | 215100 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 pmem 内存 进行 分等级 评价 方法 装置 | ||
1.一种对PMEM内存进行分等级评价的方法,其特征在于,包括如下步骤:
S1.将PMEM内存按照工作模式进行测试项分层;步骤S1具体步骤如下:
S11.获取PMEM内存所属的大类,包括AEP内存、BPS内存以及CPS内存;
S12.获取PMEM内存每个大类下的测试模式,每个大类下都包括三种基础模式,内存模式、应用直接访问模式和混合模式;
S13.获取PMEM内存每个大类下每个测试模式的测试子项;应用直接访问模式包括应用直接访问交织模式和应用直接访问非交织模式的测试子项;混合模式包括内存模式与应用直接访问交织模式的混合模式的测试子项,以及内存模式与应用直接访问非交织模式的混合模式的测试子项;
S14.将PMEM内存的所有测试子项按照大类、测试模式进行分层;当测试需求为对PMEM内存某项功能或某个模式进行分级评价时,将PMEM内存分类算法模型中非待测项功能或模式对应参数权重设置为0;当PMEM内存样本集合中样本数量小于设定阈值时,将分类结果参数权重设置为0,直至PMEM内存分类算法模型训练准确后再提高相应的权重;
S2.获取PMEM内存样本集合,并按照分层的测试项进行测试,记录分层的测试结果;
S3.计算PMEM内存样本集合内测试结果的概率分布函数;
S4.在概率分布函数上划分级别区间,并为每个级别区间设定权值,再统计每个级别区间内测试结果的数量,并为每个PMEM内存进行加权求和,得到评价指标;
S5.将每个PMEM内存按照评价指标进行分级评价。
2.如权利要求1所述的对PMEM内存进行分等级评价的方法,其特征在于,S2具体步骤如下:
S21.获取PMEM内存样本集合;
S22.对PMEM内存样本集合内每个PMEM内存的每个测试子项进行预设次数的测试,并记录每次测试结果;
S23.每个测试子项的测试进行评判,判断是否满足伯努利分布函数;
若是,进入步骤S24;
若否,淘汰测试子项对应的PMEM内存;
S24.对每个测试子项的所有次测试结果,去除最大值和最小值后取均值,作为对应测试子项的测试结果。
3.如权利要求2所述的对PMEM内存进行分等级评价的方法,其特征在于,步骤S3具体步骤如下:
S31.统计PMEM内存样本集合中每个PMEM内存的测试子项的测试结果,设定为测试值;
S32.计算PMEM内存样本集合中所有测试值的均值和方差;
S33.以所有测试值的均值为偏移,以所有测试值的方差为幅度,生成以测试值为变量,以概率为输出值的高斯分布函数。
4.如权利要求3所述的对PMEM内存进行分等级评价的方法,其特征在于,步骤S4具体步骤如下:
S41.将高斯分布函数按照曲线对称轴和转折点划分为四个区间;
S42.将四个区间按照变量大小划分为四个等级,并为每个等级设定权重,设定变量值大的区间权重大于变量值小的区间权重;
S43.统计每个PMEM内存在每个级别区间内测试值的数量,并按照设定权重进行加权求和,得到每个PMEM内存的评价指标。
5.如权利要求4所述的对PMEM内存进行分等级评价的方法,其特征在于,步骤S5具体步骤如下:
S51.将PMEM内存样本集合内PMEM内存按照评价指标进行排序;
S52.评价指标值大的PMEM内存性能高于评价指标低的PMEM内存。
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