[发明专利]一种对PMEM内存进行分等级评价的方法及装置

说明书

本发明提供一种对PMEM内存进行分等级评价的方法及装置，所述方法包括如下步骤：S 1.将PMEM内存按照工作模式进行测试项分层；S2.获取PMEM内存样本集合，并按照分层的测试项进行测试，记录分层的测试结果；S3.计算PMEM内存样本集合内测试结果的概率分布函数；S4.在概率分布函数上划分级别区间，并为每个级别区间设定权值，再统计每个级别区间内测试结果的数量，并为每个PMEM内存进行加权求和，得到评价指标；S5.将每个PMEM内存按照评价指标进行分级评价。本发明实现对PMEM内存进行分等级评价，以便进行PMEM内存质量排序、功能推荐和风险预警。

技术领域

本发明属于内存测试技术领域，具体涉及一种对PMEM内存进行分等级评价的方法及装置。

背景技术

随着内存技术的发展，新的内存种类应运而生。PMEM是目前的新型内存，也称作DPCM或者DCPMM。PMEM内存的子产品包括AEP和BPS，以及2021年即将发布的CPS，并且每一代的PMEM与每一代平台相对应。

PMEM内存与普通内存相比如下特征：一、作为大容量内存，可在服务器重启后免去数据和进程载入时间。二、降低总成本，对CPU过剩，避免内存容量不足的应用场景智能增加设备数量，增加软件授权以及增加机柜，增加能源消耗，同时可结合原来分散的业务。三、PMEM内存可提供相对较大的容量的同时，提供接近DRAM的读写速度和延迟，是传统SSD无法比拟的。四、可提供的单条容量大，并可与DDR4插槽兼容。

PMEM内存还有各种模式可以设定，以满足各种功能的使用，PMEM的内存模式主要有以下几种：一、内存模式，适用于需要大容量内存。二、应用直接访问模式，此种模式下，PMEM内存如同存储一般具有持久性。三、混合模式，即一部分充有内存模式，一部分处于应用直接访问模式，此种模式下应用可以使用高性能存储，避免在I/O总线上来回传输数据。

PMEM内存的测试方法还极不成熟，现有的测试方法只能单纯的根据某些测试项目，简单进行评价，既无法对单个PMEM内存进行单一评估，也无法对一批PMEM内存产品进行优良中差的等级评价。

此为现有技术的不足，因此，针对现有技术中的上述缺陷，提供一种对PMEM内存进行分等级评价的方法及装置，是非常有必要的。

发明内容

针对现有技术的上述现有的内存测试方法，无法对单个PMEM内存进行单一评估，也无法对一批PMEM内存产品进行优良中差的等级评价的缺陷，本发明提供一种对PMEM内存进行分等级评价的方法及装置，以解决上述技术问题。

第一方面，本发明提供一种对PMEM内存进行分等级评价的方法，包括如下步骤：

S1.将PMEM内存按照工作模式进行测试项分层；

S2.获取PMEM内存样本集合，并按照分层的测试项进行测试，记录分层的测试结果；

S3.计算PMEM内存样本集合内测试结果的概率分布函数；

S4.在概率分布函数上划分级别区间，并为每个级别区间设定权值，再统计每个级别区间内测试结果的数量，并为每个PMEM内存进行加权求和，得到评价指标；

S5.将每个PMEM内存按照评价指标进行分级评价。

进一步地，步骤S1具体步骤如下：

S11.获取PMEM内存所属的大类；

S12.获取PMEM内存每个大类下的测试模式；

S13.获取PMEM内存每个大类下每个测试模式的测试子项；

S14.将PMEM内存的所有测试子项按照大类、测试模式进行分层。对PMEM内存按照所述大类、测试模式以及每个测试模式下测试子项进行分层，测试全面，并便于后续按层统计测试结果。