[发明专利]一种内存信号质量评估方法、系统及装置在审
申请号: | 202110960937.3 | 申请日: | 2021-08-20 |
公开(公告)号: | CN113760682A | 公开(公告)日: | 2021-12-07 |
发明(设计)人: | 吴忠良;闫波;李岩 | 申请(专利权)人: | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/34 | 分类号: | G06F11/34;G06F11/22;G06F3/06 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 侯珊 |
地址: | 250101 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 内存 信号 质量 评估 方法 系统 装置 | ||
1.一种内存信号质量评估方法,其特征在于,包括:
在内存初始化之后,确定所述内存的读写参考电平值对应的第一取值范围及读写时序电平值对应的第二取值范围;
将所述读写参考电平值从所述第一取值范围内按照预设第一步进值依次取值,并将所述读写时序电平值从所述第二取值范围内按照预设第二步进值依次取值,且分别在不同取值的所述读写参考电平值和所述读写时序电平值下对所述内存进行读/写操作;
根据所有所述读/写操作的整体成功情况,相应评估所述内存的读/写信号质量。
2.如权利要求1所述的内存信号质量评估方法,其特征在于,将所述读写参考电平值从所述第一取值范围内按照预设第一步进值依次取值,并将所述读写时序电平值从所述第二取值范围内按照预设第二步进值依次取值,且分别在不同取值的所述读写参考电平值和所述读写时序电平值下对所述内存进行读/写操作,包括:
将所述读写参考电平值从所述第一取值范围的最大值开始,按照预设第一步进值依次取值,直至取到所述第一取值范围的最小值;
以每次所述读写参考电平值的取值为基础,将所述读写时序电平值从所述第二取值范围的最小值开始,按照预设第二步进值依次取值,直至取到所述第二取值范围的最大值,并分别在不同取值的所述读写时序电平值下对所述内存进行读/写操作。
3.如权利要求2所述的内存信号质量评估方法,其特征在于,所述预设第一步进值和所述预设第二步进值的确定过程,包括:
预先设置第一步进值、第二步进值与评估准确度要求之间的步进准确度对应关系;
根据所述步进准确度对应关系,确定与所述内存的实际评估准确度要求对应的所述预设第一步进值及所述预设第二步进值。
4.如权利要求1所述的内存信号质量评估方法,其特征在于,在内存初始化之后,确定所述内存的读写参考电平值对应的第一取值范围及读写时序电平值对应的第二取值范围,包括:
通过定制BIOS,使所述内存所在的系统主板开机后停止在所述内存的初始化过程结束后,以进入确定所述内存的读写参考电平值对应的第一取值范围及读写时序电平值对应的第二取值范围的步骤。
5.如权利要求1-4任一项所述的内存信号质量评估方法,其特征在于,所述内存信号质量评估方法还包括:
以所述读写时序电平值为横坐标、以所述读写参考电平值为纵坐标,分别建立读信号图和写信号图;其中,在任一取值的所述读写参考电平值和所述读写时序电平值下,若读操作失败,则将所述读信号图上对应的取值区域标记为失败区域、若写操作失败,则将所述写信号图上对应的取值区域标记为失败区域。
6.如权利要求5所述的内存信号质量评估方法,其特征在于,所述内存信号质量评估方法还包括:
分别在所述读信号图和所述写信号图的中心区域划分出第一信号标准区域,并在所述第一信号标准区域的外围区域划分出第二信号标准区域;
则根据所有所述读/写操作的整体成功情况,相应评估所述内存的读/写信号质量,包括:
在目标信号图上,若所述失败区域在所述第二信号标准区域的外围,则确定所述内存的目标信号质量为高质量;其中,所述目标信号图为所述读信号图或所述写信号图;
若所述失败区域在所述第一信号标准区域的外围且与所述第二信号标准区域有重合区域,则确定所述内存的目标信号质量为中等质量;
若所述失败区域与所述第一信号标准区域和所述第二信号标准区域均有重合区域,则确定所述内存的目标信号质量为低质量。
7.如权利要求6所述的内存信号质量评估方法,其特征在于,所述内存信号质量评估方法还包括:
将所述目标信号图上的失败区域、第一信号标准区域及第二信号标准区域分别标记为不同颜色。
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