[发明专利]一种内存信号质量评估方法、系统及装置

说明书

本发明公开了一种内存信号质量评估方法、系统及装置，在内存初始化之后，确定内存的读写参考电平值对应的第一取值范围及读写时序电平值对应的第二取值范围；将读写参考电平值从第一取值范围内按照预设第一步进值依次取值，并将读写时序电平值从第二取值范围内按照预设第二步进值依次取值，且分别在不同取值的读写参考电平值和读写时序电平值下对内存进行读/写操作；根据所有读/写操作的整体成功情况，相应评估内存的读/写信号质量。可见，本申请通过软件层面评估内存信号质量，不依靠示波器、探头等物理设备，更加方便和节省成本，且评估准确性较高。

技术领域

本发明涉及存储领域，特别是涉及一种内存信号质量评估方法、系统及装置。

背景技术

目前，对于DDR(Double Data Rate，双倍速率)内存，通常采用示波器探头点测内存信号的方式来测试内存信号的质量。但是，这种方法受制于测试人员的手法和测试设备，容易影响测试结果的准确性；且示波器、探头等物理设备的价格昂贵，导致测试成本较高。

因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是本领域的技术人员目前需要解决的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种内存信号质量评估方法、系统及装置，通过软件层面评估内存信号质量，不依靠示波器、探头等物理设备，更加方便和节省成本，且评估准确性较高。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种内存信号质量评估方法，包括：

在内存初始化之后，确定所述内存的读写参考电平值对应的第一取值范围及读写时序电平值对应的第二取值范围；

将所述读写参考电平值从所述第一取值范围内按照预设第一步进值依次取值，并将所述读写时序电平值从所述第二取值范围内按照预设第二步进值依次取值，且分别在不同取值的所述读写参考电平值和所述读写时序电平值下对所述内存进行读/写操作；

根据所有所述读/写操作的整体成功情况，相应评估所述内存的读/写信号质量。

优选地，将所述读写参考电平值从所述第一取值范围内按照预设第一步进值依次取值，并将所述读写时序电平值从所述第二取值范围内按照预设第二步进值依次取值，且分别在不同取值的所述读写参考电平值和所述读写时序电平值下对所述内存进行读/写操作，包括：

将所述读写参考电平值从所述第一取值范围的最大值开始，按照预设第一步进值依次取值，直至取到所述第一取值范围的最小值；

以每次所述读写参考电平值的取值为基础，将所述读写时序电平值从所述第二取值范围的最小值开始，按照预设第二步进值依次取值，直至取到所述第二取值范围的最大值，并分别在不同取值的所述读写时序电平值下对所述内存进行读/写操作。

优选地，所述预设第一步进值和所述预设第二步进值的确定过程，包括：

预先设置第一步进值、第二步进值与评估准确度要求之间的步进准确度对应关系；

根据所述步进准确度对应关系，确定与所述内存的实际评估准确度要求对应的所述预设第一步进值及所述预设第二步进值。

优选地，在内存初始化之后，确定所述内存的读写参考电平值对应的第一取值范围及读写时序电平值对应的第二取值范围，包括：

通过定制BIOS，使所述内存所在的系统主板开机后停止在所述内存的初始化过程结束后，以进入确定所述内存的读写参考电平值对应的第一取值范围及读写时序电平值对应的第二取值范围的步骤。

优选地，所述内存信号质量评估方法还包括：