[发明专利]一种FPGA芯片测试平台和FPGA芯片测试方法

权利要求书

1.一种FPGA芯片测试平台，其特征在于，包括：

激励产生发送的代理模块，配置用于产生随机激励序列；

参考模型，配置用于接收所述激励产生发送的代理模块产生的所述随机激励序列，并基于所述随机激励序列生成目标数据；以及

计分板，配置用于将所述参考模型生成的所述目标数据和FPGA芯片的输出数据进行对比，以得到测试结果；

其中，所述激励产生发送的代理模块与所述FPGA芯片通过串行协议接口相连，所述激励产生发送的代理模块向所述FPGA芯片发送所述随机激励序列，并接收所述FPGA芯片的输出数据。

2.根据权利要求1所述的FPGA芯片测试平台，其特征在于，还包括：

激励产生环境的配置模块，配置用于基于不同的FPGA芯片改变测试的参数值。

3.根据权利要求1所述的FPGA芯片测试平台，其特征在于，还包括：

覆盖率统计模块，配置用于统计所述随机激励序列的覆盖率以判断所述随机激励序列是否完备。

4.根据权利要求1所述的FPGA芯片测试平台，其特征在于，所述激励产生发送的代理模块进一步配置用于：

将产生的所述随机激励序列发送给所述参考模型；

将接收的所述FPGA芯片的所述输出数据发送给所述计分板。

5.根据权利要求1所述的FPGA芯片测试平台，其特征在于，所述激励产生发送的代理模块包括：

激励包模块，配置用于定义激励包，所述激励包包含变量个数和激励随机范围；

激励序列产生模块，配置用于调用所述激励包模块以产生不同的随机激励序列；

驱动，配置用于将所述激励序列产生模块生成的所述随机激励序列发送给FPGA芯片，并接收所述FPGA芯片的输出数据。

6.根据权利要求5所述的FPGA芯片测试平台，其特征在于，所述激励序列产生模块进一步配置用于：

将产生的所述随机激励序列发送给所述参考模型。

7.根据权利要求5所述的FPGA芯片测试平台，其特征在于，所述驱动进一步配置用于：

将接收到的所述FPGA芯片的所述输出数据发送给所述计分板。

8.根据权利要求1所述的FPGA芯片测试平台，其特征在于，所述参考模型进一步配置用于：

将生成的所述目标数据发送给所述计分板。

9.一种FPGA芯片测试方法，其特征在于，所述测试方法应用于权利要求1-8任意一项所述的测试平台，所述测试方法包括以下步骤：

由激励产生发送的代理模块产生随机激励序列，并将所述随机激励序列分别发送给参考模型和FPGA芯片；

由所述参考模型接收所述随机激励序列，并基于所述随机激励序列生成目标数据，并将所述目标数据发送给计分板；

由所述激励产生发送的代理模块接收所述FPGA芯片的输出数据，并将所述输出数据发送给所述计分板；

由所述计分板将所述目标数据和所述输出数据进行对比，以得到测试结果。

10.根据权利要求9所述的FPGA芯片测试方法，其特征在于，还包括：

统计所述随机激励序列的覆盖率以判断所述随机激励序列是否完备。