[发明专利]具有附加式金属栅极和具有偶极层的栅极电介质的全环绕栅极集成电路结构的制造在审
申请号: | 202110966539.2 | 申请日: | 2021-08-23 |
公开(公告)号: | CN114256238A | 公开(公告)日: | 2022-03-29 |
发明(设计)人: | D·S·拉弗里克;D·M·克鲁姆;O·萨达特;O·戈隆兹卡;T·加尼 | 申请(专利权)人: | 英特尔公司 |
主分类号: | H01L27/092 | 分类号: | H01L27/092;H01L29/423;H01L29/51;H01L21/8238 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 浩路;吕传奇 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 附加 金属 栅极 偶极层 电介质 环绕 集成电路 结构 制造 | ||
1.一种集成电路结构,其包括:
水平纳米线的第一垂直布置;
水平纳米线的第二垂直布置;
在水平纳米线的第一垂直布置之上的第一栅极堆叠,第一栅极堆叠具有在第一栅极电介质之上的P型导电层,第一栅极电介质包括在第一偶极材料层上的高k电介质层;以及
在水平纳米线的第二垂直布置之上的第二栅极堆叠,第二栅极堆叠具有在第二栅极电介质之上的N型导电层,第二栅极电介质包括在第二偶极材料层上的高k电介质层。
2.根据权利要求1所述的集成电路结构,其中所述高k电介质层是HfO2层。
3.根据权利要求1或2所述的集成电路结构,其中所述第一偶极层包括选自由Al2O3、TiO2、ZrO2和HfO2组成的组的材料,并且所述第二偶极层包括选自由La2O3、Y2O3、MgO、SrO和Lu2O3组成的组的材料。
4.根据权利要求1或2所述的集成电路结构,其中所述第一或第二偶极层中的一个具有在1-3埃范围内的厚度。
5.根据权利要求1或2所述的集成电路结构,其中所述第一或第二偶极层中的一个具有在4-6埃范围内的厚度。
6.根据权利要求1或2所述的集成电路结构,其中P型导电层具有围绕水平纳米线的第一垂直布置中的纳米线的第一部分、以及在所述第一部分旁边横向延伸并与所述第一部分间隔开的第二部分,其中P型导电层的第二部分在水平纳米线的第一垂直布置与水平纳米线的第二垂直布置之间,并且其中N型导电层具有围绕水平纳米线的第二垂直布置中的纳米线的第一部分、以及与P型导电层的第二部分邻近并接触的第二部分。
7.根据权利要求1或2所述的集成电路结构,进一步包括:
在水平纳米线的第一垂直布置的第一端和第二端处的第一对外延源极或漏极结构;以及
在水平纳米线的第二垂直布置的第一端和第二端处的第二对外延源极或漏极结构。
8.根据权利要求7所述的集成电路结构,进一步包括:
在第一对外延源极或漏极结构上的第一对导电接触部;以及
在第二对外延源极或漏极结构上的第二对导电接触部。
9.根据权利要求7所述的集成电路结构,其中第一对和第二对外延源极或漏极结构是第一对和第二对非分立外延源极或漏极结构。
10.根据权利要求7所述的集成电路结构,其中第一对和第二对外延源极或漏极结构是第一对和第二对分立外延源极或漏极结构。
11.一种集成电路结构,其包括:
水平纳米线的第一垂直布置;
水平纳米线的第二垂直布置;
水平纳米线的第三垂直布置;
在水平纳米线的第一垂直布置之上的第一栅极堆叠,第一栅极堆叠具有在第一栅极电介质之上的导电层,第一栅极电介质包括在第一偶极材料层上的高k电介质层;
在水平纳米线的第二垂直布置之上的第二栅极堆叠,第二栅极堆叠具有在第二栅极电介质之上的导电层,第二栅极电介质包括在第二偶极材料层上的高k电介质层;以及
在水平纳米线的第二垂直布置之上的第三栅极堆叠,第三栅极堆叠具有在第三栅极电介质之上的导电层,第三栅极电介质包括高k电介质层并且不包括偶极材料层。
12.根据权利要求11所述的集成电路结构,其中所述高k电介质层是HfO2层。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的