[发明专利]非易失性存储器装置及对其单元进行计数的方法在审
申请号: | 202110966900.1 | 申请日: | 2021-08-23 |
公开(公告)号: | CN114255797A | 公开(公告)日: | 2022-03-29 |
发明(设计)人: | 金珉奭;金炯坤 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11C8/04 | 分类号: | G11C8/04;G11C7/06;G11C16/08 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 黄晓燕;张川绪 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 非易失性存储器 装置 单元 进行 计数 方法 | ||
1.一种对非易失性存储器装置的存储器单元阵列中的存储器单元的数量进行计数的方法,所述方法包括:
将用于单元计数操作的测量窗的测量范围和多个测量区间分别设置为第一范围和多个第一区间,所述多个测量区间包括在测量范围中;
基于测量窗对包括在存储器单元阵列的第一区域中的第一存储器单元执行第一感测操作;
在测量范围的宽度和所述多个测量区间中的每个的宽度被保持的同时,执行用于移位测量窗的第一移位操作;
基于通过第一移位操作移位的测量窗对第一存储器单元执行第二感测操作;以及
基于第一感测操作的结果和第二感测操作的结果来获得第一存储器单元的最终计数值,
其中,测量范围和所述多个测量区间中的每个表示与最终计数值相关联的存储器单元的数量。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,
在第一感测操作期间,测量范围和所述多个测量区间分别具有第一范围和所述多个第一区间,
在第一移位操作之后并且在第二感测操作期间,测量范围和所述多个测量区间分别具有第二范围和多个第二区间,
第二范围的宽度与第一范围的宽度相等,并且所述多个第二区间中的每个的宽度与所述多个第一区间中的每个的宽度相等,并且
所述多个第一区间的边界值和所述多个第二区间的边界值彼此不重叠。
3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述多个第二区间的边界值与所述多个第一区间的中心值对应。
4.根据权利要求1所述的方法,还包括:
在非易失性存储器装置的模数转换器处接收模拟信号,其中,
测量窗由包括多个晶体管的模数转换器确定,并且
通过在不改变施加到模数转换器的模拟信号的情况下控制所述多个晶体管中的至少一些晶体管的导通和截止来执行第一移位操作。
5.根据权利要求4所述的方法,其中,模拟信号是具有特定电压电平的参考电压。
6.根据权利要求1至5中的任一项所述的方法,其中,执行第一感测操作的步骤包括:
从第一存储器单元获得第一感测电流;
通过基于测量窗将第一感测电流与参考电流进行比较来获得第一数字值;
基于第一数字值获得第一计数值;以及
存储第一数字值和第一计数值中的至少一个。
7.根据权利要求1所述的方法,还包括:
将测量范围和所述多个测量区间分别改变为第二范围和多个第二区间,
其中,第二范围的宽度比第一范围的宽度宽,
其中,所述多个第二区间中的每个的宽度比所述多个第一区间中的每个的宽度宽。
8.根据权利要求7所述的方法,其中,第二范围的宽度是第一范围的宽度的两倍,
其中,所述多个第二区间中的每个的宽度是所述多个第一区间中的每个的宽度的两倍。
9.根据权利要求7所述的方法,其中,
在第一感测操作期间,测量范围和所述多个测量区间分别具有第二范围和所述多个第二区间,
在第一移位操作之后并且在第二感测操作期间,测量范围和所述多个测量区间分别具有第三范围和多个第三区间,
第三范围的宽度与第二范围的宽度相等,并且所述多个第三区间中的每个的宽度与所述多个第二区间中的每个的宽度相等,并且
所述多个第三区间的边界值和所述多个第二区间的边界值彼此不重叠。
10.根据权利要求9所述的方法,其中,所述多个第三区间的边界值与所述多个第二区间的中心值对应。
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