[发明专利]一种复合型分立半导体晶体管在审

专利信息
申请号: 202110974177.1 申请日: 2021-08-24
公开(公告)号: CN113792512A 公开(公告)日: 2021-12-14
发明(设计)人: 马凯学;张进;傅海鹏;王勇强;闫宁宁 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G06F30/367 分类号: G06F30/367;G06F30/392
代理公司: 天津市三利专利商标代理有限公司 12107 代理人: 张义
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 复合型 分立 半导体 晶体管
【权利要求书】:

1.一种复合型分立半导体晶体管,其特征在于:包括两个金属-氧化物半导体场效应晶体管级联的共源共栅结构、级间电感以及偏置电路;

所述共源共栅结构中的两个晶体管分别为晶体管M1以及晶体管M2,所述晶体管M1的栅极和源极分别形成复合晶体管的栅极和源极;所述晶体管M1的漏极和晶体管M2的源级通过级间电感L连接在一起;所述晶体管M2的栅极通过电阻R与晶体管M2的漏极耦合在一起,并且共同形成复合晶体管的漏极;所述电阻R与电容C组成晶体管M2的栅极偏置电路。

2.根据权利要求1所述的复合型分立半导体晶体管,其特征在于:所述复合型分立半导体晶体管的加工工艺包括如下步骤:

步骤一:选取合适的晶体管尺寸及偏置状态;

步骤二:选取合适的级间电感;

步骤三:设计偏置电路;选取一个大电阻用来连接共栅晶体管的栅极和漏极,用于为共栅晶体管供电,且栅极偏置与漏极电压一致;

步骤四:版图布局与电磁仿真,根据搭建的原理图进行版图的布局,并进行联合仿真优化,最终得到最优的电路结构设计;

步骤五:选取合适的封装形式。

3.根据权利要求2所述的复合型分立半导体晶体管,其特征在于:在步骤一中:对于金属-氧化物半导体场效应晶体管,其尺寸包括栅宽和栅长;栅长取为最小,也就是工艺特征尺寸;栅宽由叉指数和单个叉指宽度确定,选择较小的宽度作为单个叉指宽度。

4.根据权利要求2所述的复合型分立半导体晶体管,其特征在于:在步骤五中,根据应用频率与应用场景的需求,选择封装外壳并且通过键合或者倒扣的形式将管芯与封装进行连接,最终得到复合分立晶体管。

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