[发明专利]图像斑点检测方法、设备、介质及计算机程序产品

说明书

本申请公开了一种图像斑点检测方法、设备、介质及计算机程序产品，基于待测产品获取测试图像，并获取测试图像的光学中心；基于光学中心确定测试图像的像素值序列信息；根据像素值序列信息对测试图像进行斑点检测，得到检测结果；若检测结果为测试图像存在斑点，则对像素值序列信息进行标准差分析，确定斑点的位置，以基于斑点的位置确定待测产品的图像传感器中造成斑点的异常点的位置。本申请可检测待测产品拍摄的测试图像是否存在斑点，并在存在斑点时确定出斑点的位置，以通过斑点的位置进一步准确地确定出待测产品的图像传感器中造成斑点的异常点的位置，便于对待测产品的图像传感器中的异常点进行处理以提高通过待测产品拍摄的图像的质量。

技术领域

本申请涉及图像处理技术领域，尤其涉及一种图像斑点检测方法、设备、介质及计算机程序产品。

背景技术

如今的电子设备大都具备摄像功能，用于如人脸识别、二维码检测等工作，因此相机的质量对于该类电子产品至关重要。但是，在相机的Camera Sensor(相机图像传感器)生产制造过程中，相机的图像传感器上容易出现异常(例如存在缺陷或异物)，使得具有这种相机图像传感器的电子设备所拍摄的图像因具有斑点而导致质量较差，而当前无法准确地确定电子设备的图像传感器中造成斑点的异常点的位置。

发明内容

本申请的主要目的在于提供一种图像斑点检测方法、设备、介质及计算机程序产品，旨在解决当前无法准确地确定电子设备的图像传感器中造成斑点的异常点的位置的技术问题。

为实现上述目的，本申请实施例提供一种图像斑点检测方法，所述图像斑点检测方法包括：

基于待测产品获取测试图像，并获取所述测试图像的光学中心；

基于所述光学中心确定所述测试图像的像素值序列信息；

根据所述像素值序列信息对所述测试图像进行斑点检测，得到检测结果；

若所述检测结果为所述测试图像存在斑点，则对所述像素值序列信息进行标准差分析，确定所述斑点的位置，以基于所述斑点的位置确定所述待测产品的图像传感器中造成所述斑点的异常点的位置。

优选地，所述对所述像素值序列信息进行标准差分析，确定所述斑点的位置的步骤包括：

获取所述像素值序列信息中的目标像素值序列；

对所述目标像素值序列进行标准差分析，得到标准差差值信息；

根据所述标准差差值信息确定所述斑点的位置。

优选地，所述对所述目标像素值序列进行标准差分析，得到标准差差值的步骤包括：

计算所述目标像素值序列的第一标准差；

根据预设步长对所述目标像素值序列设置滑动窗口，并获取各所述滑动窗口的第二标准差；

将各所述第二标准差分别与所述第一标准差进行预设运算，得到多个标准差差值，并基于多个所述标准差差值形成标准差差值信息。

优选地，所述根据所述标准差差值信息确定所述斑点的位置的步骤包括：

将所述标准差差值信息中的各所述标准差差值分别与预设阈值进行对比；

若各所述标准差差值中存在大于所述预设阈值的目标标准差差值，则获取所述目标标准差差值对应滑动窗口的像素点位置；

将所述目标标准差差值对应滑动窗口的像素点位置确定为所述斑点的位置。

优选地，所述根据所述像素值序列信息对所述测试图像进行斑点检测，得到检测结果的步骤包括：

获取所述像素值序列信息中各像素值序列的像素曲线；