[发明专利]器件性能测试方法、装置、存储介质和电子设备

权利要求书

1.一种器件性能测试方法，其特征在于，包括：

获取目标器件在第一电压下的第一漏电值和在第二电压下的第二漏电值；和/或获取所述目标器件在第一电流下的第一耐压值和在第二电流下的第二耐压值；

在所述第一漏电值与所述第二漏电值的差的绝对值大于第一阈值或者所述第一耐压值与所述第二耐压值的差的绝对值大于第二阈值的情况下，确定所述目标器件为不合格器件。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在获取目标器件在第一电压下的第一漏电值和在第二电压下的第二漏电值或者在获取所述目标器件在第一电流下的第一耐压值和在第二电流下的第二耐压值之前，所述方法还包括：

获取第一器件的电压电流曲线，其中，所述电压电流曲线记录有所述第一器件在不同的电压下的漏电值和不同电流下的耐压值，所述第一器件为预先检测为合格的器件。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在获取第一器件的电压电流曲线之后，所述方法还包括：

在所述电压电流曲线上确定所述第一器件的击穿值，其中，所述击穿值对应所述电压电流曲线上的一个点，包括击穿电压和击穿电流，在所述第一器件的电压等于所述击穿电压的情况下，所述第一器件的漏电值大于所述击穿电流，在所述第一器件的电流大于或等于所述击穿电流的情况下，所述第一器件的耐压值等于所述击穿电压。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述电压电流曲线上确定所述第一器件的击穿值之后，所述方法还包括：

获取所述电压电流曲线上小于所述击穿电压的两个不同的电压值；将所述两个不同的电压值分别确定为所述第一电压和所述第二电压。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述电压电流曲线上确定所述第一器件的击穿值之后，所述方法还包括：

获取所述电压电流曲线上大于所述击穿电流的两个不同的电流值；

将所述两个不同的电流值分别确定为所述第一电流和所述第二电流。

6.一种器件性能测试装置，其特征在于，包括：

第一获取单元，用于获取目标器件在第一电压下的第一漏电值和在第二电压下的第二漏电值；和/或获取所述目标器件在第一电流下的第一耐压值和在第二电流下的第二耐压值；

第一确定单元，用于在所述第一漏电值与所述第二漏电值的差的绝对值大于第一阈值或者所述第一耐压值与所述第二耐压值的差的绝对值大于第二阈值的情况下，确定所述目标器件为不合格器件。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

第二获取单元，用于在获取目标器件在第一电压下的第一漏电值和在第二电压下的第二漏电值或者在获取所述目标器件在第一电流下的第一耐压值和在第二电流下的第二耐压值之前，获取第一器件的电压电流曲线，其中，所述电压电流曲线记录有所述第一器件在不同的电压下的漏电值和不同电流下的耐压值，所述第一器件为预先检测为合格的器件。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

第二确定单元，用于在获取第一器件的电压电流曲线之后，在所述电压电流曲线上确定所述第一器件的击穿值，其中，所述击穿值对应所述电压电流曲线上的一个点，包括击穿电压和击穿电流，在所述第一器件的电压等于所述击穿电压的情况下，所述第一器件的漏电值大于所述击穿电流，在所述第一器件的电流大于或等于所述击穿电流的情况下，所述第一器件的耐压值等于所述击穿电压。

9.一种计算机可读的存储介质，所述计算机可读的存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序运行时执行所述权利要求1至5任一项中所述的方法。

10.一种电子设备，包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为通过所述计算机程序执行所述权利要求1至5任一项中所述的方法。