[发明专利]存储设备的测试方法、测试设备以及可读存储介质

权利要求书

1.一种存储设备的测试方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待测试存储设备的参数信息；

根据所述参数信息设置测试参数；其中，所述测试参数至少包括测试逻辑块大小、测试逻辑块的倍数以及读写测试的次数；

利用所述测试参数对所述待测试存储设备进行wordline page测试；

采集测试过程中的日志信息，基于所述日志信息得到测试结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述根据所述参数信息设置测试参数，包括：

从所述参数信息中获取所述待测试存储设备的Lun数量、plane数量和存储页容量；

利用所述Lun数量、所述plane数量和存储页容量确定所述测试逻辑块大小。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述根据所述参数信息设置测试参数，包括：

从所述参数信息中获取所述待测试存储设备的wordline类型；

根据所述wordline类型确定所述测试逻辑块的倍数。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述根据所述参数信息设置测试参数，包括：

从所述参数信息中获取所述待测试存储设备的读写寿命；

根据所述读写寿命确定所述读写测试的次数。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述利用所述测试参数对所述待测试存储设备进行wordline page测试，包括：

利用所述测试逻辑块的倍数对所述待测试存储设备中待测试的测试逻辑块进行容量增大；

按照所述读写测试的次数对所述wordline page进行读写操作；

所述采集测试过程中的日志信息，包括：

采集所述读写操作过程中的日志信息。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，

所述wordline page包括lower page、eXtra page和upper page；

所述按照所述读写测试的次数对所述wordline page进行读写操作，包括：

按照所述读写测试的次数对所述lower page进行读写操作；

所述采集读写操作过程中的日志信息，包括：

采集所述读写操作过程中所述lower page、所述eXtra page和所述upper page的对应状态，得到所述日志信息。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，

所述wordline page包括lower page和upper page；

所述按照所述读写测试的次数对所述wordline page进行读写操作，包括：

按照所述读写测试的次数对所述lower page或所述upper page进行读写操作；

所述采集读写操作过程中的日志信息，包括：

采集所述读写操作过程中所述lower page和所述upper page的对应状态，得到所述日志信息。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述方法还包括：

所述利用所述测试参数对所述待测试存储设备进行wordline page测试之前，包括：

对所述待测试存储设备进行基础测试；

确定所述待测试存储设备读写正常后，执行所述利用所述测试参数对所述待测试存储设备进行wordline page测试的步骤。

9.一种测试设备，其特征在于，所述测试设备用于连接存储设备，所述设备包括处理器以及与所述处理器耦接的存储器；

其中，所述存储器用于存储计算机程序，所述处理器用于执行所述计算机程序，以实现如权利要求1-8任一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质用于存储计算机程序，所述计算机程序在被处理器执行时，用于实现如权利要求1-8任一项所述的方法。