[发明专利]存储设备的测试方法、测试设备以及可读存储介质

说明书

本申请涉及存储设备测试技术领域，公开了存储设备的测试方法、测试设备以及可读存储介质。该方法包括：获取待测试存储设备的参数信息；根据参数信息设置测试参数；其中，测试参数至少包括测试逻辑块大小、测试逻辑块的倍数以及读写测试的次数；利用测试参数对待测试存储设备进行wordline page测试；采集测试过程中的日志信息，基于日志信息得到测试结果。通过上述方式，能够提高测试结果的准确性和可靠性。

技术领域

本申请涉及存储设备测试技术领域，特别是涉及存储设备的测试方法、测试设备以及可读存储介质。

背景技术

随着科技的发展，各种功能的电子设备被设计出来，每一电子设备中均配置有存储设备，或者通过外接存储设备来与电子设备配合，以完成读写操作。

存储设备的性能也决定了用户的使用体验。通常存储设备在出厂前需要进行测试，以确定存储设备性能。

发明内容

本申请主要解决的技术问题是提供存储设备的测试方法、测试设备以及可读存储介质，能够提高测试结果的准确性和可靠性。

为了解决上述问题，本申请采用的一种技术方案是提供一种存储设备的测试方法，该方法包括：获取待测试存储设备的参数信息；根据参数信息设置测试参数；其中，测试参数至少包括测试逻辑块大小、测试逻辑块的倍数以及读写测试的次数；利用测试参数对待测试存储设备进行wordline page测试；采集测试过程中的日志信息，基于日志信息得到测试结果。

其中，根据参数信息设置测试参数，包括：从参数信息中获取待测试存储设备的Lun(Logical Unit Number，逻辑单元号)数量、plane数量和存储页容量；利用Lun数量、plane数量和存储页容量确定测试逻辑块大小。

其中，根据参数信息设置测试参数，包括：从参数信息中获取待测试存储设备的wordline类型；根据wordline类型确定测试逻辑块的倍数。

其中，根据参数信息设置测试参数，包括：从参数信息中获取待测试存储设备的读写寿命；根据读写寿命确定读写测试的次数。

其中，利用测试参数对待测试存储设备进行wordline page测试，包括：利用测试逻辑块的倍数对待测试存储设备中待测试的测试逻辑块进行容量增大；按照读写测试的次数对wordline page进行读写操作；采集测试过程中的日志信息，包括：采集读写操作过程中的日志信息。

其中，wordline page包括lower page、eXtra page和upper page；按照读写测试的次数对wordline page进行读写操作，包括：按照读写测试的次数对lower page进行读写操作；采集读写操作过程中的日志信息，包括：采集读写操作过程中lower page、eXtrapage和upper page的对应状态，得到日志信息。

其中，wordline page包括lower page和upper page；按照读写测试的次数对wordline page进行读写操作，包括：按照读写测试的次数对lower page或upper page进行读写操作；采集读写操作过程中的日志信息，包括：采集读写操作过程中lower page和upper page的对应状态，得到日志信息。

其中，该方法还包括：利用测试参数对待测试存储设备进行wordline page测试之前，包括：对待测试存储设备进行基础测试；确定待测试存储设备读写正常后，执行利用测试参数对待测试存储设备进行wordline page测试的步骤。

为了解决上述问题，本申请采用的另一种技术方案是提供一种测试设备，该测试设备用于连接存储设备，设备包括处理器以及与处理器耦接的存储器；其中，存储器用于存储计算机程序，处理器用于执行计算机程序，以实现如上述技术方案提供的方法。