[发明专利]一种电源电压检测电路及其应用

说明书

本发明公开了一种电源电压检测电路，由以下部分组成：电源Vdd，所述电源Vdd的电压检测阈值和带隙电压一样对温度不敏感；主高带宽开环系统电路，所述主高带宽开环系统电路与所述电源Vdd连接；以及电压比较器，所述电压比较器与所述主高带宽开环系统电路连接；所述电压比较器设有反相器；其中，所述电源Vdd向所述主高带宽开环系统电路供电，电流从所述主高带宽开环系统电路流经所述电压比较器，经过所述电压比较器中的所述反相器，电源电压检测输出从所述反相器测量输出。本发明达到了提高检测电压阈值的精度、消除阈值对温度的敏感性、提高对电源电压的变化响应速度以及电路简单的技术效果。

技术领域

本发明涉及半导体芯片设计技术领域，特别涉及一种电源电压检测电路，尤其是一种电源电压检测电路及其应用。

背景技术

随着半导体芯片技术的持续进步和应用的不断拓宽，高性能、低成本的设计技术越来越重要。对电源电压，芯片上通常有三个检测，即上电复位、欠压闭锁和过压闭锁。对于这三个电源检测的电压阈值，有时需要非常准确，比如误差不超过百分之五。而影响检测误差最大的因素通常是来自于温度的变化。

既有的电源电压检测电路，为了实现对温度的不敏感，大多是基于对温度不敏感的带隙电压（bandgap voltage）。但是这种设计方法有诸多缺点，如带隙电压电路本身需要足够的电源电压才能正常工作。另外，由于带隙电压是个带反馈的闭环电路，其带宽通常很小而对电源电压的变化响应很慢。因此，这种结构尤其不适合于上电复位的电压检测。即便是用于欠压和过压闭锁的电源电压检测中，也因为检测结果容易产生毛刺而影响整个芯片的性能和可靠性。

发明内容

本发明一方面要解决的技术问题是提供一种电源电压检测电路，解决了现有技术中因温度变化导致检测结果误差大和对电源电压的变化响应速度不足以及电路复杂的技术问题，达到了降低检测结果误差、提高对电源电压的变化响应速度以及电路简单的技术效果。

为了解决上述技术问题，本发明的技术方案为：

一种电源电压检测电路，由以下部分组成：

电源Vdd，所述电源Vdd的电压检测阈值和带隙电压一样；

主高带宽开环系统电路，所述主高带宽开环系统电路与所述电源Vdd连接；以及

电压比较器，所述电压比较器与所述主高带宽开环系统电路连接；所述电压比较器设有反相器。

其中，所述电源Vdd向所述主高带宽开环系统电路供电，电流从所述主高带宽开环系统电路流经所述电压比较器，经过所述电压比较器中的所述反相器，电源电压检测输出从所述反相器测量输出。

优选的，所述主高带宽开环系统电路包括：

三极管Q1和三极管Q2；

电阻R1、第一电阻R2、第二电阻R2、第一电阻R3和第二电阻R3，所述第一电阻R2和所述第二电阻R2以及所述第一电阻R3和第二电阻R3是分别对称相同的；

其中，所述第一电阻R2和所述第二电阻R2的一端均与所述电源Vdd连接；所述第一电阻R2远离所述电源Vdd的一端与所述三极管Q1的集电极连接；所述第二电阻R2远离所述电源Vdd的一端与所述三极管Q2的集电极连接。

其中，所述三极管Q1和三极管Q2的基极通过所述第一电阻R3接地；所述三极管Q1和三极管Q2的发射极接地。

优选的，所述三极管Q2的发射极通过所述电阻R1接地；所述第一电阻R2与所述三极管Q1之间节点电压为V1；所述第二电阻R2与所述三极管Q2之间节点电压为V2；电压节点V2经过所述第二电阻R3接地。