[发明专利]输送机构、测试装置、检知方法及其应用的作业机

说明书

本发明提供一种输送机构、测试装置、检知方法及其应用的作业机，该输送机构包含至少一第一输送器及至少一取像器，第一输送器设有第一驱动源及第一载台，第一驱动源驱动第一载台沿第一路径位移于第一作业区及第二作业区而供载送电子元件，取像器装配于第一载台，并由第一载台载送至第二作业区，以供对第二作业区的移料器上的电子元件执行取像作业，而检知电子元件是否偏移，以利移料器调整且精准移载电子元件，进而提高输送使用效能。

技术领域

本发明涉及一种可提高输送使用效能的输送机构。

背景技术

在现今，电子元件测试装置以移料器于输送机构的入料载台取出待测的电子元件，并移入测试座而执行电性测试作业。然，入料载台以容置部承置电子元件，并输送电子元件至测试座的侧方，移料器由皮带轮组及移载臂等带动作Y方向位移，由测试区位移至入料载台上方以取出电子元件，再直接将电子元件移入测试座，令电子元件的接点与测试座的探针相接触而执行电性测试作业。

然而，入料载台的容置部尺寸大于电子元件的尺寸，入料载台输送电子元件的过程中，电子元件易于容置部内滑移，以致移料器拾取的电子元件的位置发生偏移问题；又移料器于移载电子元件的过程中，易因移动误差或本身结构组装误差等因素，也会发生移料器拾取的电子元件的位置偏移问题，基于前述问题，均无法使电子元件的接点与测试座的探针精准接触，以致影响测试品质；尤其电子元件日趋精密微小，精准度要求相当高，若移料器移载的电子元件稍有偏移，即无法使电子元件准确执行测试作业而降低测试品质。

发明内容

本发明的目的在于：提供一种输送机构、测试装置、检知方法及其应用的作业机，解决现有技术中存在的上述技术问题。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：

一种输送机构，其特征在于，包含：

至少一第一输送器：设有第一驱动源及第一载台，该第一驱动源驱动该第一载台沿第一路径位移于第一作业区及第二作业区，该第一载台供承载电子元件；

至少一取像器：装配于该第一载台，以供该第一载台载送该取像器同步位移于该第一作业区及该第二作业区，该取像器能够取像该第二作业区的移料器拾取的电子元件，以检知电子元件是否偏移。

所述的输送机构，其中：还包含至少一该移料器，该移料器能够沿第二路径位移至该第二作业区移载电子元件，以供该取像器取像电子元件。

所述的输送机构，其中：该移料器还包含温控单元，该温控单元于该移料器设置至少一温控件，以供温控电子元件。

所述的输送机构，其中：该第一驱动源为线性马达或包含马达及至少一传动组。

所述的输送机构，其中：该第一载台设有容置部，以供承置电子元件。

所述的输送机构，其中：该取像器能够装配于该第一载台的非承置电子元件的任一部位。

所述的输送机构，其中：该取像器为CCD。

所述的输送机构，其中：还包含第二输送器，该第二输送器设有第二驱动源及第二载台，该第二驱动源驱动该第二载台沿该第一路径位移于第三作业区及该第二作业区，该第二载台供承载电子元件。

一种测试装置，其特征在于，包含：

至少一测试器：设有电性连接的传输件及电路板，以供测试电子元件；

至少一所述的输送机构：该移料器在该第一输送器及该测试器间移载电子元件，该第一输送器输送电子元件，该取像器取像该移料器上的电子元件。

所述的测试装置，其中：该第一输送器的该第一路径位于该测试器的侧方或上方。

所述的测试装置，其中：还包含测试室，该测试室以供罩置该测试器而执行测试作业。