[发明专利]一种光学检测装置、成像方法和智能双面检测系统在审
申请号: | 202111017180.0 | 申请日: | 2021-08-31 |
公开(公告)号: | CN113740260A | 公开(公告)日: | 2021-12-03 |
发明(设计)人: | 温延培;杨云仙;刘华雷;刘洋;曹葵康;徐一华 | 申请(专利权)人: | 苏州天准科技股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/95 |
代理公司: | 北京千壹知识产权代理事务所(普通合伙) 11940 | 代理人: | 郭士磊 |
地址: | 215153 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光学 检测 装置 成像 方法 智能 双面 系统 | ||
1.一种光学检测装置,其特征在于:所述光学检测装置(100)包括图像采集模组(10)、光源模组(20)和移动载台(30),所述图像采集模组(10)、光源模组(20)和移动载台(30)自上而下布置,所述图像采集模组(10)采用在XZ平面内受控移动的线扫相机进行图像采集,所述移动载台(30)在Y轴方向受控的移动送料;所述图像采集模组(10)与图像处理器电讯连接,通过图像处理算法对获取的图像进行尺寸和瑕疵的量检测。
2.根据权利要求1所述的光学检测装置,其特征在于:所述图像采集模组(10)包括光学侧立柱(11)、光学转接背板(12)、光学X轴组件(13)、光学Z轴组件(14)和线扫相机(15),其中,两个所述光学侧立柱(11)跨设在所述移动载台(30)两侧,所述光学转接背板(12)的两端固定至所两个所述光学侧立柱(11)上,所述光学X轴组件(13)横向固定至所述光学转接背板(12)上,所述光学Z轴组件(14)固定至所述光学X轴组件(13)上,多个所述线扫相机(15)并排的固定至所述光学Z轴组件(14)上。
3.根据权利要求2所述的光学检测装置,其特征在于:两个或三个所述线扫相机(15)通过相机转接板(16)固定至所述光学Z轴组件(14)上,所述线扫相机(15)在相机转接板(16)上的位置可调。
4.根据权利要求2所述的光学检测装置,其特征在于:所述光学X轴组件(13)和光学Z轴组件(14)采用电机丝杆驱动或直线电机驱动。
5.根据权利要求2所述的光学检测装置,其特征在于:所述光源模组(20)包括光源支架(21)、灯条(22)和散热组件(23),在灯条(22)的横向中间设有灯条间隙,在散热组件(23)的横向中间设有与所述灯条间隙对齐的透光缝,其中所述灯条(22)通过光源支架(21)侧边的光源驱动件(24)驱动以实现Z轴方向的微调。
6.根据权利要求5所述的光学检测装置,其特征在于:所述光源支架(21)的底面与所述光学侧立柱(11)的底面平齐的固定至机台上,所述线扫相机(15)的光路出射方向正对所述光源模组(20)的透光缝和灯条间隙。
7.根据权利要求5所述的光学检测装置,其特征在于:所述移动载台(30)的驱动台(31)采用电机丝杆驱动或直线电机驱动,载台(32)采用真空吸附平台或夹爪平台,在驱动台(31)的两端板处设置防撞件(33),在驱动台(31)的两侧端设置光栅尺(34)以测算载台(32)在Y轴方向的位置和位移量。
8.一种采用权利要求1-7任一项所述光学检测装置进行线扫成像的方法,其特征在于,方法包括:
S1、先将移动载台(30)上的待测件沿着Y轴输送至光源模组(20)正下方;
S2、微调定位线扫始点,先将待测件在Y轴向始点定位,再将图像采集模组(10)的线扫相机(15)在X轴向始点定位;
S3、调节检测光强,通过光源模组(20)的光源驱动件(24)驱动灯条(22)的Z轴向高度实现亮度调节,同时图像采集模组(10)在Z轴向调节线扫相机(15)的高度实现定焦;
S4、线扫成像,线扫相机(15)沿X轴开始线扫,完成一行后暂停,移动载台(30)沿Y轴方向将待测件移送至下一位置,进行下一行线扫,如此重复直至完成整个待测件板面的图像采集;
S5、图像处理器接收步骤S4采集的待测件的图像并进行拼接,获取待测件的整个图像。
9.一种板件智能双面检测系统,其特征在于:系统包括上料装置(10000)、正面检装置(20000)、翻转装置(30000)、反面检装置(40000)和下料装置(50000);其中,正面检装置(20000)用于对上料装置(10000)供给的待测件的正面进行量检测;所述翻转装置(30000)对正面检测完的待测件在翻转工位翻转180°并运送至反面检装置(40000);所述反面检装置(40000)用于对反面朝上的待测件进行反面的量检测,并将检测完的板件输送给下料装置;其中,所述正面检装置(20000)和反面检装置(40000)均采用权利要求1-7任一项所述的光学检测装置进行图像采集。
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