[发明专利]芯片、芯片总线的检测系统、检测方法及存储介质

权利要求书

1.一种芯片总线的检测系统，其特征在于，包括：

调试接口、调试总线、至少一个总线检测单元和控制器，其中，

每个所述总线检测单元的第一端与每个总线单元相连，每个所述总线检测单元的第二端与每个所述总线单元对应的总线节点相连，每个所述总线检测单元的第三端通过所述调试总线与所述调试接口的第一端相连，所述调试接口的第二端与所述控制器相连；

所述控制器用于在所述芯片总线出现异常的情况下，通过所述调试接口和所述调试总线，访问每个所述总线检测单元，以获取每个所述总线检测单元的信息，并根据每个所述总线检测单元的信息，定位所述芯片总线出现异常的地址。

2.根据权利要求1所述的芯片总线的检测系统，其特征在于，所述控制器还用于：

对地址出现异常的芯片总线，进行相应处理，以使所述芯片安全可靠地运行。

3.根据权利要求1所述的芯片总线的检测系统，其特征在于，所述控制器访问每个所述总线检测单元时，包括：

按照寻址的方式，对每个所述总线检测单元进行访问。

4.根据权利要求1所述的芯片总线的检测系统，其特征在于，所述调试接口为联合测试工作组JTAG接口。

5.一种芯片，其特征在于，包括：如权利要求1-4中任一项所述的芯片总线的检测系统。

6.一种芯片总线的检测方法，其特征在于，芯片总线的检测装置包括调试接口、调试总线、至少一个总线检测单元和控制器，每个所述总线检测单元的第一端与每个总线单元相连，每个所述总线检测单元的第二端与每个所述总线单元对应的总线节点相连，每个所述总线检测单元的第三端通过所述调试总线与所述调试接口的第一端相连，所述调试接口的第二端与所述控制器相连，其中，所述检测方法包括以下步骤：

在所述芯片总线出现异常的情况下，通过所述调试接口和所述调试总线，访问每个所述总线检测单元，以获取每个所述总线检测单元的信息；

根据每个所述总线检测单元的信息，定位所述芯片总线出现异常的地址。

7.根据权利要求6所述的芯片总线的检测方法，其特征在于，所述访问每个所述总线检测单元，包括：

按照寻址的方式，对每个所述总线检测单元进行访问。

8.根据权利要求6所述的芯片总线的检测方法，其特征在于，还包括：

对地址出现异常的芯片总线，进行相应处理，以使所述芯片安全可靠地运行。

9.根据权利要求6所述的芯片总线的检测方法，其特征在于，所述调试接口为联合测试工作组JTAG接口。

10.一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机指令用于使所述计算机执行权利要求6-9中任一项所述的芯片总线的检测方法。