[发明专利]芯片、芯片总线的检测系统、检测方法及存储介质

说明书

本发明提出一种芯片、芯片总线的检测系统、检测方法及存储介质，所述系统包括：调试接口、调试总线、至少一个总线检测单元和控制器，其中，每个总线检测单元的第一端与每个总线单元相连，每个总线检测单元的第二端与每个总线单元对应的总线节点相连，每个总线检测单元的第三端通过调试总线与调试接口的第一端相连，调试接口的第二端与控制器相连；控制器用于在芯片总线出现异常的情况下，通过调试接口和调试总线，访问每个总线检测单元，以获取每个总线检测单元的信息，并根据每个总线检测单元的信息，定位芯片总线出现异常的地址。由此，该系统能够在芯片的总线发生异常时，加快定位异常的芯片总线地址的速度，提升了调试芯片的效率和有效性。

技术领域

本发明涉及芯片技术领域，尤其涉及一种芯片、芯片总线的检测系统、检测方法及存储介质。

背景技术

SoC(System-on-a-Chip)芯片是一种系统级芯片，也称片上芯片，是一个有专用目标的集成电路，其硬件的大概组成是：核心、存储、外设接口(高速外设和低速外设)、总线、中断单元和时钟单元等。在SoC芯片的总线发生异常时，通常会发生处理器无法访问的情况，继续无法得知哪些总线单元的总线发生异常。

因此，如何在SoC芯片的总线发生异常时，得知哪些总线单元的总线发生了异常是目前亟待解决的问题。

发明内容

本发明的目的旨在至少从一定程度上解决上述技术中的技术问题之一。

为此，本发明第一个目的在于提出一种芯片总线的检测系统，该系统能够在芯片的总线发生异常时，加快定位异常的芯片总线地址的速度，提升了调试芯片的效率和有效性。

本发明的第二个目的在于提出一种芯片。

本发明的第三个目的在于提出一种芯片总线的检测方法。

本发明的第四个目的在于提出一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质。

为达到上述目的，本发明第一方面实施例提出了一种芯片总线的检测系统，包括：调试接口、调试总线、至少一个总线检测单元和控制器，其中，每个所述总线检测单元的第一端与每个总线单元相连，每个所述总线检测单元的第二端与每个所述总线单元对应的总线节点相连，每个所述总线检测单元的第三端通过所述调试总线与所述调试接口的第一端相连，所述调试接口的第二端与所述控制器相连；所述控制器用于在所述芯片总线出现异常的情况下，通过所述调试接口和所述调试总线，访问每个所述总线检测单元，以获取每个所述总线检测单元的信息，并根据每个所述总线检测单元的信息，定位所述芯片总线出现异常的地址。

根据本发明实施例的芯片总线的检测系统，通过在每个总线单元和对应的总线节点之间增设一个总线检测单元，将所有的总线检测单元通过调试总线和调试接口与控制器相连，以便控制器在芯片总线出现异常的情况下，通过调试接口和调试总线，访问每个总线检测单元，以获取每个总线检测单元的信息，并根据每个总线检测单元的信息，定位芯片总线出现异常的地址。由此，该系统能够在芯片的总线发生异常时，加快定位异常的芯片总线地址的速度，提升了调试芯片的效率和有效性。

另外，根据本发明上述实施例提出的芯片总线的检测系统还可以具有如下附加的技术特征：

根据本发明的一个实施例，所述控制器还用于：对地址出现异常的芯片总线，进行相应处理，以使所述芯片安全可靠地运行。

根据本发明的一个实施例，所述控制器访问每个所述总线检测单元时，包括：按照寻址的方式，对每个所述总线检测单元进行访问。

根据本发明的一个实施例，所述调试接口为联合测试工作组JTAG接口。

为达到上述目的，本发明第二方面实施例提出了一种芯片，该芯片包括上述的芯片总线的检测系统。