[发明专利]一种故障预测方法、装置和电子设备在审

专利信息
申请号: 202111033395.1 申请日: 2021-09-03
公开(公告)号: CN113742176A 公开(公告)日: 2021-12-03
发明(设计)人: 李波涌 申请(专利权)人: 联想(北京)有限公司
主分类号: G06F11/30 分类号: G06F11/30;G06F11/32;G06F11/34
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王欢
地址: 100085 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 故障 预测 方法 装置 电子设备
【权利要求书】:

1.一种故障预测方法,包括:

监测所述目标存储芯片,记录发生擦除的时间以及次数;

基于所述发生擦除的时间以及次数满足预设的故障条件,生成告警信息,以预警所述目标存储芯片处于危险状态。

2.根据权利要求1所述的方法,判断发生擦除的时间以及次数满足预设的故障条件,包括:

基于所述目标存储芯片发生擦除的时间以及次数,分析得到预设时间段内擦除所述目标存储芯片的平均周期,所述预设时间段内包括至少两个平均周期;

判断所述次数以及平均周期是否满足预设故障条件;

基于所述次数以及平均周期满足预设的故障条件,判定所述擦除信息满足预设的故障条件。

3.根据权利要求2所述的方法,判断所述次数以及平均周期是否满足预设故障条件,包括:

判断所述次数是否大于预设的第一次数阈值,得到第一判断结果;

基于第一判断结果表征所述次数大于预设的第一次数阈值,判断所述平均周期是否小于预设的第一周期阈值,得到第二判断结果;

基于所述第二判断结果表征所述平均周期小于预设的第一周期阈值,判定所述擦除信息满足预设的故障条件。

4.根据权利要求3所述的方法,所述预设的次数阈值至少包括两个次数阈值,所述预设的周期阈值包括至少两个周期阈值;

其中,所述基于所述第二判断结果表征所述平均周期小于预设的第一周期阈值之后,还包括:

基于所述目标存储芯片发生擦除的时间,分析得到预设时间段内所述目标存储芯片的擦除间隔时间;

判断所述预设时间段内所述目标存储芯片的擦除间隔时间是否满足预设固定周期条件,得到第三判断结果;

基于所述第三判断结果表征所述预设时间段内所述目标存储芯片的擦除间隔时间满足预设固定周期条件,判定所述擦除信息满足预设的故障条件;

基于所述第三判断结果表征所述预设时间段内所述目标存储芯片的擦除间隔时间不满足预设固定周期条件,判断所述次数是否大于预设的第二次数阈值,得到第四判断结果,所述第二次数阈值大于所述第一次数阈值;

基于第四判断结果表征所述次数大于预设的第二次数阈值,判断所述平均周期是否小于预设的第二周期阈值,得到第五判断结果,所述第二周期阈值大于所述第一周期阈值;

基于所述第五判断结果表征所述平均周期小于预设的第二周期阈值,判定所述擦除信息满足预设的故障条件。

5.根据权利要求1所述的方法,所述生成告警信息,以预警所述目标存储芯片处于危险状态,包括:

生成告警信息,并将所述告警信息发送给基板管理控制器,以使得基板管理控制器在网页页面配置信息中添加所述告警信息,使得在所述网页页面告警。

6.根据权利要求1所述的方法,所述生成告警信息,以预警所述目标存储芯片处于危险状态,包括:

生成告警信息,并将所述告警信息发送给操作系统,以使得操作系统通过配置可扩展固件接口参数实现在显示屏幕中输出显示内容,所述显示内容用于预警所述目标存储芯片处于危险状态。

7.一种故障预测装置,包括:

监测模块,用于监测所述目标存储芯片,记录发生擦除的时间以及次数;

预警模块,用于基于所述发生擦除的时间以及次数满足预设的故障条件,生成告警信息,以预警所述目标存储芯片处于危险状态。

8.根据权利要求7所述的装置,还包括:

分析模块,用于基于所述目标存储芯片发生擦除的时间以及次数,分析得到预设时间段内所述目标存储芯片的平均周期,所述预设时间段内包括至少两个平均周期;判断所述次数以及平均周期是否满足预设故障条件;基于所述次数以及平均周期满足预设的故障条件,判定所述擦除信息满足预设的故障条件。

9.一种电子设备,包括:存储器、处理器;

其中,存储器存储有处理程序;

所述处理器用于加载并执行所述存储器存储的所述处理程序,以实现如上述1-6任一项所述的故障预测方法的各步骤。

10.一种可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器调用并执行,实现如权利要求上述1-6任一项所述的故障预测方法的各步骤。

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