[发明专利]一种故障预测方法、装置和电子设备

说明书

本申请提供了一种故障预测方法，包括：监测所述目标存储芯片，记录发生擦除的时间以及次数；基于所述发生擦除的时间以及次数满足预设的故障条件，生成告警信息，以预警所述目标存储芯片处于危险状态。本方案中，通过实时检测目标存储芯片每次发生擦除的时间和发生的次数，掌握该目标存储芯片的情况，在该发生擦除的时间以及次数满足预设的故障条件时，生成告警信息，预警用户该目标存储芯片处于危险状态，以使得用户基于该预警进行操作，如关闭电源停止该目标存储芯片被继续擦写，达到保护目标存储芯片的目的。

技术领域

本申请涉及信息处理领域，更具体的说，是涉及一种故障预测方法、装置和电子设备。

背景技术

flash(编码型快闪记忆体)芯片是应用非常广泛的存储材料，其可以进行快速的存储、擦除数据。Flash一般设计有擦除(erase)的设计上限，当其擦除次数达到设计上限时，flash芯片达到使用寿命将会损坏。

但是，当设备中的某些程序或者其他功能在运行过程中，会导致flash芯片上的一部分存储的擦写频率加快，很容易导致flash芯片达到设计上限，而使得其达到使用寿命被损坏，导致系统可能无法开机。

发明内容

有鉴于此，本申请提供了一种故障预测方法，如下：

一种故障预测方法，包括：

监测所述目标存储芯片，记录发生擦除的时间以及次数；

基于所述发生擦除的时间以及次数满足预设的故障条件，生成告警信息，以预警所述目标存储芯片处于危险状态。

可选的，上述的方法，判断发生擦除的时间以及次数满足预设的故障条件，包括：

基于所述目标存储芯片发生擦除的时间以及次数，分析得到预设时间段内擦除所述目标存储芯片的平均周期，所述预设时间段内包括至少两个平均周期；

判断所述次数以及平均周期是否满足预设故障条件；

基于所述次数以及平均周期满足预设的故障条件，判定所述擦除信息满足预设的故障条件。

可选的，上述的方法，判断所述次数以及平均周期是否满足预设故障条件，包括：

判断所述次数是否大于预设的第一次数阈值，得到第一判断结果；

基于第一判断结果表征所述次数大于预设的第一次数阈值，判断所述平均周期是否小于预设的第一周期阈值，得到第二判断结果；

基于所述第二判断结果表征所述平均周期小于预设的第一周期阈值，判定所述擦除信息满足预设的故障条件。

可选的，上述的方法，所述预设的次数阈值至少包括两个次数阈值，所述预设的周期阈值包括至少两个周期阈值；

其中，所述基于所述第二判断结果表征所述平均周期小于预设的第一周期阈值之后，还包括：

基于所述目标存储芯片发生擦除的时间，分析得到预设时间段内所述目标存储芯片的擦除间隔时间；

判断所述预设时间段内所述目标存储芯片的擦除间隔时间是否满足预设固定周期条件，得到第三判断结果；

基于所述第三判断结果表征所述预设时间段内所述目标存储芯片的擦除间隔时间满足预设固定周期条件，判定所述擦除信息满足预设的故障条件；

基于所述第三判断结果表征所述预设时间段内所述目标存储芯片的擦除间隔时间不满足预设固定周期条件，判断所述次数是否大于预设的第二次数阈值，得到第四判断结果，所述第二次数阈值大于所述第一次数阈值；

基于第四判断结果表征所述次数大于预设的第二次数阈值，判断所述平均周期是否小于预设的第二周期阈值，得到第五判断结果，所述第二周期阈值大于所述第一周期阈值；