[发明专利]一种高压NPN器件在审

专利信息
申请号: 202111035454.9 申请日: 2021-09-03
公开(公告)号: CN113823678A 公开(公告)日: 2021-12-21
发明(设计)人: 张炜 申请(专利权)人: 无锡市晶源微电子有限公司
主分类号: H01L29/73 分类号: H01L29/73;H01L27/06
代理公司: 北京天盾知识产权代理有限公司 11421 代理人: 张彩珍
地址: 214028 江苏省无锡市国家*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 高压 npn 器件
【权利要求书】:

1.一种高压NPN器件,包括低压NPN三极管,其特征在于,还包括JFET管,所述低压NPN三极管与所述JFET管集成;所述低压NPN三极管的集电极接所述JFET管的源极;所述JFET管的漏极作为所述高压NPN器件的集电极;所述低压NPN三极管的基极和发射极分别作为所述高压NPN器件的基极和发射极。

2.根据权利要求1所述的高压NPN器件,其特征在于,P型衬底上方设有N型外延岛,所述N型外延岛下端与所述P型衬底之间,由左至右依次设有第一N型埋层和第二N型埋层;

所述第一N型埋层上方由下至上依次相连第一深N阱扩散区、第一N+扩散区,所述第一N+扩散区上方通过接触孔和金属线形成欧姆接触,作为所述JFET管的漏极和所述高压NPN器件的集电极引出端;

所述N型外延岛内设有第二P阱区,所述第二P阱区位于所述第一N型埋层和第二N型埋层之间的上方,所述第二P阱区与其正下方的P型衬底连接,作为所述JFET管的栅极;

所述第二N型埋层的上方由下至上依次相连第二深N阱扩散区、第二N+扩散区,作为所述JFET管的源极和所述低压NPN三极管的集电极;

所述N型外延岛内设有Pbase扩散区,所述Pbase扩散区位于所述第二深N阱扩散区、第二N+扩散区的右侧,所述Pbase扩散区内,对应左端和右端分别设有P+扩散区和第三N+扩散区,所述P+扩散区上方通过接触孔和金属线形成欧姆接触,作为所述低压NPN三极管的基极引出端,所述第三N+扩散区上方通过接触孔和金属线形成欧姆接触,作为所述低压NPN三极管的发射极引出端。

3.根据权利要求2所述的高压NPN器件,其特征在于:所述N型外延岛两侧设有第一P阱区、第三P阱区,所述第一P阱区位于所述第一深N阱扩散区、第一N+扩散区的左侧,所述第一P阱区下方接有第一P型埋层;所述第三P阱区位于所述Pbase扩散区的右侧,所述第三P阱区下方接有第二P型埋层。

4.根据权利要求2所述的高压NPN器件,其特征在于:所述P型衬底、第二P阱区、对应所述JFET管漏区和栅极外侧的N型外延岛,均采用耐压的或高耐压的轻掺杂硅材料;所述JFET管漏区和栅极外侧的N型外延岛是指,对应所述第一深N阱扩散区和第二深N阱扩散区之间的N型外延岛区域。

5.根据权利要求1所述的高压NPN器件,其特征在于,P型衬底上方设有N型外延岛,所述N型外延岛下端与所述P型衬底之间,设有第二N型埋层;所述N型外延岛上端设有第一N+扩散区,所述第一N+扩散区位于所述第二N型埋层左侧;

所述第一N+扩散区上方通过接触孔和金属线形成欧姆接触,作为所述JFET管的漏极和所述高压NPN器件的集电极引出端;

所述N型外延岛内设有第二P阱区,所述第二P阱区位于所述第一N+扩散区和第二N型埋层之间,所述第二P阱区与其正下方的P型衬底连接,作为所述JFET管的栅极;

所述第二N型埋层作为所述JFET管的源极和所述低压NPN三极管的集电极;

所述N型外延岛内设有Pbase扩散区,所述Pbase扩散区位于所述第二N型埋层的上方,所述Pbase扩散区内,对应左端和右端分别设有P+扩散区和第三N+扩散区,所述P+扩散区上方通过接触孔和金属线形成欧姆接触,作为所述低压NPN三极管的基极引出端,所述第三N+扩散区上方通过接触孔和金属线形成欧姆接触,作为所述低压NPN三极管的发射极引出端。

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