[发明专利]一种多核测试处理器及集成电路测试系统与方法有效
申请号: | 202111040904.3 | 申请日: | 2021-09-07 |
公开(公告)号: | CN113514759B | 公开(公告)日: | 2021-12-17 |
发明(设计)人: | 毛国梁 | 申请(专利权)人: | 南京宏泰半导体科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/317 | 分类号: | G01R31/317;G06F11/22 |
代理公司: | 南京新众合专利代理事务所(普通合伙) 32534 | 代理人: | 彭雄 |
地址: | 210000 江苏省南京市浦口区*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 多核 测试 处理器 集成电路 系统 方法 | ||
1.一种数字信号测试板卡装置,其特征在于:包括总线控制器(21)、多核测试处理器(23)、测试子系统控制器、测试子系统控制总线(24)、数字测试子系统,其中:
所述总线控制器(21)用于数字信号测试板卡装置与PC端的通讯控制;
所述多核测试处理器(23)用于执行测试图形文件,产生对测试子系统的控制命令;所述多核测试处理器(23)包括协测试处理器同步控制器(11)、主测试处理器(12)、两个以上的协测试处理器(13)、测试子系统指令切换器(17),主测试处理器(12)与协测试处理器(13)之间通过命令总线一(14)连接,主测试处理器(12)与测试子系统指令切换器(17)之间通过命令总线二(15)连接,协测试处理器(13)与测试子系统指令切换器(17)之间通过命令总线三(16)连接,其中:
所述主测试处理器(12)为全局测试处理器,主测试处理器(12)与其他全局处理器同步或异步工作,并行或并发执行主测试图形文件,进而发送主测试指令给下属各个测试子系统,同时将需要并发测试的局部测试图形交给协测试处理器(13)执行;
协测试处理器同步控制器(11)用于控制各个协测试处理器(13)是否同步或异步方式工作;
所述协测试处理器(13)为局部测试处理器,所述协测试处理器(13)受主测试处理器(12)的控制执行局部测试图形文件,进而发送局部测试指令给其下属各个测试子系统;
所述测试子系统指令切换器(17)用于切换主测试处理器(12)发送给其下属测试子系统的主测试指令;用于切换协测试处理器(13)发送给其下属测试子系统的局部测试指令;
所述测试子系统控制总线(24)用于多核测试处理器(23)与测试子系统之间的控制命令传递;
所述测试子系统控制器用于接收多核测试处理器(23)产生对测试子系统的控制命令,并根据测此控制命令产生测试子系统通道控制命令;
所述测试子系统(25)接受测试子系统控制器产生的测试子系统通道控制命令,根据测试图形文件的要求,输出任意的数字测试时序信号,或进行任意被测信号的匹配分析。
2.根据权利要求1所述数字信号测试板卡装置,其特征在于:所述主测试处理器、协测试处理器通过冯诺伊曼结构测试处理器(4)搭建构成,所述冯诺伊曼结构测试处理器(4)包括时序发生器(1)、测试图形发生器(2)、信号处理单元控制指令发生器(3)、存储控制器(5)、图形储存器(6),其中:
所述图形储存器(6)用于存储经过编译后的测试图形文件代码;
所述时序发生器(1)、测试图形发生器(2)、信号处理单元控制指令发生器(3)通过存储控制器(5)访问图形储存器,获取指令和数据;
所述时序发生器(1)用于按照编译后的测试图形文件代码中的图形文件指定的时序要求,产生每个周期所需的精确时序信号;
测试图形发生器(2)用于按照编译后的测试图形文件代码中的图形文件的指令要求和时序发生器(1)产生的精确时序信号,产生图形测试所需的控制时序,同时控制存储控制器(5)对图形储存器的地址访问;
信号处理单元控制指令发生器(3)在测试图形发生器(2)产生的控制时序的控制下,将测试子系统控制指令发送给相应的子系统,实现对子系统的同步控制。
3.根据权利要求2所述数字信号测试板卡装置,其特征在于:每个协测试处理器(13)与主测试处理器(12)异步工作在不同的时钟域中,协测试处理器(13)和其他协测试处理器工作在相同或不同的时钟域中。
4.根据权利要求3所述数字信号测试板卡装置,其特征在于:各个协测试处理器(13)在协测试处理器同步控制器(11)的控制下各自独立,或分组工作在相同或不同的时钟域中。
5.根据权利要求4所述数字信号测试板卡装置,其特征在于:所述测试子系统由数字电平驱动器、窗口比较器、动态负载发生器、精密电流源组成。
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