[发明专利]一种液晶显示屏的串漏笔测试方法及系统在审
申请号: | 202111050261.0 | 申请日: | 2021-09-08 |
公开(公告)号: | CN113899967A | 公开(公告)日: | 2022-01-07 |
发明(设计)人: | 刘忠余 | 申请(专利权)人: | 信利半导体有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G02F1/13 |
代理公司: | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人: | 邢飞飞 |
地址: | 516600 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 液晶显示屏 串漏笔 测试 方法 系统 | ||
1.一种液晶显示屏的串漏笔测试方法,其特征在于,包括步骤:
将第一测试信号加载于奇数行的COM线,其中所述第一测试信号为高电平和低电平交替循环的电压信号,且各高电平和各低电平分别对应一像素点;
将第二测试信号加载于偶数行的COM线,其中所述第二测试信号为低电平和高电平交替循环的电压信号,且所述第二测试信号的高电平与施加于相邻行所述COM线上的所述第一测试信号的高电平错位;
将第三测试信号加载于奇数行的SEG线,其中所述第三测试信号为高电平和低电平交替循环的电压信号,且所述第三测试信号的高电平和低电平与所述第一测试信号和所述第二测试信号在施加于同一像素点的高电平和低电平对应;
将第四测试信号加载于偶数行的SEG线,其中所述第四测试信号为高电平和低电平交替循环的电压信号,且所述第四测试信号的高电平和低电平与所述第一测试信号和所述第二测试信号在施加于同一像素点的高电平和低电平对应;
在待测试的液晶显示屏上形成黑白色的单点棋盘格画面,以根据单点棋盘格画面确定是否有串漏笔。
2.根据权利要求1所述的液晶显示屏的串漏笔测试方法,其特征在于,在待测试的液晶显示屏上形成黑白色的单点棋盘格画面,以根据单点棋盘格画面确定是否有串漏笔,具体包括步骤:
判定单点棋盘格画面显示是否正常;
若正常,则表明液晶显示屏的所有COM线和所有SEG线均正常;
若不正常,则表明液晶显示屏出现串漏笔情况。
3.根据权利要求2所述的液晶显示屏的串漏笔测试方法,其特征在于,若不正常,则表明液晶显示屏出现串漏笔情况,具体包括步骤:
若出现黑色线条,则表明液晶显示屏出现漏笔情况;
若出现至少两条相邻且平行的灰色线条,则表明液晶显示屏出现串笔情况,其中灰色线条的颜色介于白色和黑色之间。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的液晶显示屏的串漏笔测试方法,其特征在于,所述第一测试信号、所述第二测试信号、所述第三测试信号和所述第四测试信号的各高电平所对应的电压相等,且各低电平所对应的电压相等。
5.根据权利要求4所述的液晶显示屏的串漏笔测试方法,其特征在于,所述第一测试信号、所述第二测试信号、所述第三测试信号和所述第四测试信号的高电平对应的电压为正电压,低电平对应的电压为负电压,且高电平的电压值大于低电平的电压值。
6.一种液晶显示屏的串漏笔测试系统,其特征在于,包括:
第一测试信号加载单元,用于将第一测试信号加载于奇数行的COM线,其中所述第一测试信号为高电平和低电平交替循环的电压信号,且各高电平和各低电平分别对应一像素点;
第二测试信号加载单元,用于将第二测试信号加载于偶数行的COM线,其中所述第二测试信号为低电平和高电平交替循环的电压信号,且所述第二测试信号的高电平与施加于相邻行所述COM线上的所述第一测试信号的高电平错位;
第三测试信号加载单元,用于将第三测试信号加载于奇数行的SEG线,其中所述第三测试信号为高电平和低电平交替循环的电压信号,且所述第三测试信号的高电平和低电平与所述第一测试信号和所述第二测试信号在施加于同一像素点的高电平和低电平对应;
第四测试信号加载单元,用于将第四测试信号加载于偶数行的SEG线,其中所述第四测试信号为高电平和低电平交替循环的电压信号,且所述第四测试信号的高电平和低电平与所述第一测试信号和所述第二测试信号在施加于同一像素点的高电平和低电平对应;
确定单元,用于在待测试的液晶显示屏上形成黑白色的单点棋盘格画面后,根据单点棋盘格画面确定是否有串漏笔。
7.根据权利要求6所述的液晶显示屏的串漏笔测试方法,其特征在于,所述确定单元,具体用于:
判定单点棋盘格画面显示是否正常;
若正常,则表明液晶显示屏的所有COM线和所有SEG线均正常;
若不正常,则表明液晶显示屏出现串漏笔情况。
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