[发明专利]一种液晶显示屏的串漏笔测试方法及系统

说明书

本发明公开一种液晶显示屏的串漏笔测试方法及系统，方法包括步骤：将第一测试信号加载于奇数行的COM线；将第二测试信号加载于偶数行的COM线，其中第二测试信号为低电平和高电平交替循环的电压信号；将第三测试信号加载于奇数行的SEG线，其中第三测试信号为高电平和低电平交替循环的电压信号；将第四测试信号加载于偶数行的SEG线，其中第四测试信号为高电平和低电平交替循环的电压信号；在待测试的液晶显示屏上形成黑白色的单点棋盘格画面，以根据单点棋盘格画面确定是否有串漏笔。本发明中，使用一张画面，即可完成液晶显示屏的串漏笔检测情况，设计巧妙，节省时间和人力。而且通过单点棋盘格画面，可以较为容易发现串漏笔问题。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种液晶显示屏的串漏笔测试方法及系统。

背景技术

液晶显示屏在出厂之前，需要进行黑白显示屏测试，即测试液晶显示屏的COM线和SEG线的串漏笔问题。目前，测试COM线和SEG线的串漏笔问题时，通常做法为，依次对奇数行COM线、偶数行COM线、奇数列SEG线和偶数列SEG线施加测试电压，形成如图1所示的分别对应奇数行COM线、偶数行COM线、奇数列SEG线和偶数列SEG线的条纹状测试画面，通过条纹状测试画面检测是否有串漏笔问题。

但是，通过上述方式测试COM线和SEG线的串漏笔问题，一般都是需要四个测试画面给生产检查人员检查，使每个液晶显示屏都要做四个画面的检测动作，耗费时间和人力，效率低。

发明内容

本发明公开一种液晶显示屏的串漏笔测试方法及系统，用于解决现有技术中，对液晶显示屏进行黑白测试时费时费力的问题。

为了解决上述问题，本发明采用下述技术方案：

提供一种液晶显示屏的串漏笔测试方法，包括步骤：

将第一测试信号加载于奇数行的COM线，其中所述第一测试信号为高电平和低电平交替循环的电压信号，且各高电平和各低电平分别对应一像素点；

将第二测试信号加载于偶数行的COM线，其中所述第二测试信号为低电平和高电平交替循环的电压信号，且所述第二测试信号的高电平与施加于相邻行所述COM线上的所述第一测试信号的高电平错位；

将第三测试信号加载于奇数行的SEG线，其中所述第三测试信号为高电平和低电平交替循环的电压信号，且所述第三测试信号的高电平和低电平与所述第一测试信号和所述第二测试信号在施加于同一像素点的高电平和低电平对应；

将第四测试信号加载于偶数行的SEG线，其中所述第四测试信号为高电平和低电平交替循环的电压信号，且所述第四测试信号的高电平和低电平与所述第一测试信号和所述第二测试信号在施加于同一像素点的高电平和低电平对应；

在待测试的液晶显示屏上形成黑白色的单点棋盘格画面，以根据单点棋盘格画面确定是否有串漏笔。

可选的，在待测试的液晶显示屏上形成黑白色的单点棋盘格画面，以根据单点棋盘格画面确定是否有串漏笔，具体包括步骤：

判定单点棋盘格画面显示是否正常；

若正常，则表明液晶显示屏的所有COM线和所有SEG线均正常；

若不正常，则表明液晶显示屏出现串漏笔情况。

可选的，若不正常，则表明液晶显示屏出现串漏笔情况，具体包括步骤：

若出现黑色线条，则表明液晶显示屏出现漏笔情况；

若出现至少两条相邻且平行的灰色线条，则表明液晶显示屏出现串笔情况，其中灰色线条的颜色介于白色和黑色之间。

可选的，所述第一测试信号、所述第二测试信号、所述第三测试信号和所述第四测试信号的各高电平所对应的电压相等，且各低电平所对应的电压相等。