[发明专利]光纤监测方法、装置、设备及存储介质在审
申请号: | 202111050359.6 | 申请日: | 2021-09-08 |
公开(公告)号: | CN113949446A | 公开(公告)日: | 2022-01-18 |
发明(设计)人: | 张传彪;唐雄燕;沈世奎;师严 | 申请(专利权)人: | 中国联合网络通信集团有限公司 |
主分类号: | H04B10/071 | 分类号: | H04B10/071;G06K9/62 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
地址: | 100033 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光纤 监测 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
1.一种光纤监测方法,其特征在于,所述方法包括:
获取第一光纤的第一光纤事件数据、以及第二光纤的第二光纤事件数据;
计算所述第一光纤事件数据和所述第二光纤事件数据的相似度,得到第一相似度;
判断所述第一相似度是否大于预设的同缆判决阈值;
当所述第一相似度大于所述同缆判决阈值时,确定所述第一光纤和第二光纤同缆;
当所述第一相似度小于或等于所述同缆判决阈值时,判断所述第一相似度是否大于预设的同沟判决阈值;所述同沟判决阈值小于所述同缆判决阈值;
当所述第一相似度大于所述同沟判决阈值时,确定所述第一光纤和第二光纤同沟但不同缆;
当所述第一相似度小于或等于所述同沟判决阈值时,确定所述第一光纤和第二光纤不同沟。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取第一光纤的第一光纤事件数据、以及第二光纤的第二光纤事件数据,包括:
获取光时域反射仪OTDR测试设备采集的所述第一光纤的第一OTDR测试曲线数据、以及所述第二光纤的第二OTDR测试曲线数据;
根据所述第一OTDR测试曲线数据得到所述第一光纤的第一光纤事件数据;
根据所述第二OTDR测试曲线数据得到所述第二光纤的第二光纤事件数据。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述同缆判决阈值与所述第一光纤和所述第二光纤所在的区域的光纤数量相关;所述第一光纤和所述第二光纤所在的区域的光纤数量越大,所述同缆判决阈值越大。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述判断所述第一相似度是否大于预设的同缆判决阈值之前,所述方法还包括:
获取所述第一光纤和所述第二光纤所在区域的光纤数量;
根据所述第一光纤和所述第二光纤所在区域的光纤数量,确定所述同缆判决阈值。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一光纤和所述第二光纤所在区域的光纤数量,确定所述同缆判决阈值,包括:
根据所述第一光纤和所述第二光纤所在区域的光纤数量、以及预设的光纤数量和同缆判决阈值的对应关系,确定所述同缆判决阈值。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述同缆判决阈值包括第一同缆判决阈值和第二同缆判决阈值,所述第一同缆判决阈值大于所述第二同缆判决阈值;所述根据所述第一光纤和所述第二光纤所在区域的光纤数量,确定所述同缆判决阈值,包括:
判断所述第一光纤和所述第二光纤所在区域的光纤数量是否大于预设的第一阈值;
若是,确定所述同缆判决阈值为所述第一同缆判决阈值;
若否,确定所述同缆判决阈值为所述第二同缆判决阈值。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述同沟判决阈值与所述第一光纤和所述第二光纤所在的区域的光纤数量相关;所述第一光纤和所述第二光纤所在的区域的光纤数量越大,所述同沟判决阈值越大。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述判断所述第一相似度是否大于预设的同沟判决阈值之前,所述方法还包括:
获取所述第一光纤和所述第二光纤所在区域的光纤数量;
根据所述第一光纤和所述第二光纤所在区域的光纤数量,确定所述同沟判决阈值。
9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一光纤和所述第二光纤所在区域的光纤数量,确定所述同沟判决阈值,包括:
根据所述第一光纤和所述第二光纤所在区域的光纤数量、以及预设的光纤数量和同沟判决阈值的对应关系,确定所述同沟判决阈值。
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