[发明专利]半导体封装装置及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202111053964.9 申请日: 2021-09-09
公开(公告)号: CN113823601A 公开(公告)日: 2021-12-21
发明(设计)人: 田兴国;李志成 申请(专利权)人: 日月光半导体制造股份有限公司
主分类号: H01L23/13 分类号: H01L23/13;H01L23/14;H01L23/31;H01L21/56;H01L21/66
代理公司: 北京植德律师事务所 11780 代理人: 唐华东
地址: 中国台湾高雄*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 半导体 封装 装置 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种半导体封装装置,包括:

基板,第一侧设置有第一线路和第二线路,所述第一线路具有第一表面,所述第二线路设置于所述第一表面上,所述第一表面具有第一凹陷结构。

2.根据权利要求1所述的装置,其中,所述第一线路和所述第二线路之间设置有介电层,所述介电层覆盖所述第一线路的至少部分。

3.根据权利要求2所述的装置,其中,所述介电层覆盖所述第一凹陷结构。

4.根据权利要求1所述的装置,其中,所述第二线路设置于所述第一凹陷结构上。

5.根据权利要求1所述的装置,其中,所述装置还包括:

第一电子元件,所述第一电子元件埋设于所述基板内,所述第二线路经所述第一线路与所述第一电子元件电连接。

6.根据权利要求5所述的装置,其中,所述装置还包括:

第二电子元件,设置于所述第二线路上。

7.根据权利要求1所述的装置,其中,所述基板与所述第一侧相对的第二侧设置有第三线路,所述第三线路具有与所述第一表面相对的第二表面,所述第二表面具有第二凹陷结构。

8.根据权利要求1所述的装置,其中,所述装置还包括:

封装层,包覆所述第一凹陷结构。

9.一种半导体封装装置的制造方法,包括:

提供基板,所述基板第一侧设置有第一线路,所述第一线路具有第一表面;

通过探针在所述第一表面进行电气测试,以在所述第一表面形成第一凹陷结构;

在所述第一表面上设置第二线路。

10.根据权利要求9所述的方法,其中,所述在所述第一表面上设置第二线路,包括:

对应所述第一凹陷结构在所述第一表面上设置所述第二线路。

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