[发明专利]电致变色器件变色响应时间检测方法、装置、存储介质

权利要求书

1.一种电致变色器件变色响应时间的检测方法，其特征在于，包括：

对电致变色器件施加一固定周期的恒压方波信号；

向所述电致变色器件发射特定波长的光线；

获取所述光线经过所述电致变色器件反射后光线的波形；

基于所述波形的相邻波峰与波谷之间的时间间隔来确定所述电致变色器件的变色响应时间。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在所述对电致变色器件施加一固定周期的恒压方波信号的步骤中，所述恒压方波信号的固定周期大于所述电致变色器件的完全变色周期。

3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在所述对电致变色器件施加一固定周期的恒压方波信号的步骤中，所述恒压方波信号的恒压值大于或等于所述电致变色器件的可实现完全变色的标准电压值。

4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在所述向电致变色器件发射特定波长的光线的步骤中，所述光线的特定波长与所述电致变色器件的变色颜色相适配。

5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在所述获取所述光线经过所述电致变色器件反射后光线的波形的步骤中，采样时间间隔不大于0.1s。

6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述基于所述波形的相邻波峰与波谷之间的时间间隔来确定所述电致变色器件的变色响应时间的步骤包括：获取所述波形的相邻波峰与波谷差值的预设百分比所对应的区间为变色响应区间，将所述变色响应区间所对应的时间间隔作为所述电致变色器件的变色响应时间。

7.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，所述波形的相邻波峰与波谷差值的预设百分比为80-90％。

8.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，所述获取所述波形的相邻波峰与波谷差值的预设百分比所对应的区间为变色响应区间的步骤包括：获取所述波形的多个周期内的变色响应区间；

所述将所述变色响应区间所对应的时间间隔作为所述电致变色器件的变色响应时间的步骤包括：将所述多个周期内的变色响应区间所对应的时间间隔的平均值或者中位数值作为所述电致变色器件的变色响应时间。

9.一种电致变色器件变色响应时间的检测装置，其特征在于，包括：

施压模块，用于对电致变色器件施加一固定周期的恒压方波信号；

光线模块，用于向所述电致变色器件发射特定波长的光线；

获取模块，用于获取所述光线经过所述电致变色器件反射后光线的波形；

确定模块，用于基于所述波形的相邻波峰与波谷之间的时间间隔来确定所述电致变色器件的变色响应时间。

10.一种电致变色器件变色响应时间的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括相互连接的处理器和存储器，所述存储器用于存储程序数据，所述处理器用于执行所述程序数据以实现如权利要求1-8任一项所述的检测方法。

11.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有程序数据，所述程序数据在被处理器执行时，用于实现如权利要求1-8任一项所述的检测方法。