[发明专利]电致变色器件变色响应时间检测方法、装置、存储介质

说明书

本申请提供了一种电致变色器件变色响应时间检测方法、装置、存储介质；该检测方法包括：对电致变色器件施加一固定周期的恒压方波信号；向电致变色器件发射特定波长的光线；获取光线经过电致变色器件反射后光线的波形；基于所述波形的相邻波峰与波谷之间的时间间隔来确定电致变色器件的变色响应时间。该检测方法通过获取光线经过电致变色器件的波形，并基于波形的相邻波峰与波谷之间的时间间隔来确定电致变色器件的变色响应时间。该检测方法可以解决不透光以及不均匀透光电致变色器件的测试难点，而无需在半成品阶段做测试，进而提高了生产效率和产品质量，具有检测流程简单、检测准确性和可靠性高的特点。

技术领域

本发明涉及电致变色器件变色响应时间检测的技术领域，具体是涉及一种电致变色器件变色响应时间的检测方法、检测装置以及计算机可读存储介质。

背景技术

电致变色器件已经开始越来越多的被应用，譬如建筑物外墙玻璃、电子设备变色壳体等。其中，电致变色器件的几项最重要的指标测试如响应时间、变色效率等，学术界和业界主要通过器件的透过率变化来测试和分析。以响应时间为例，电致变色器件响应时间大致按照峰值透过率和谷值透过率的差值来定义。

基于透过率变化的测试方案只能针对透明器件，如果带有其他不透光膜片或光线透过不均匀介质则不适用，如电致变色器件与作为衬底的纹理膜、磨砂玻璃等配合的组合结构件。在这种情况下，要监控产品的性能只能在制程中段，电致变色器件还未贴合其他膜层时做半成品的性能测试，对于成品的测试则无能为力。

而且，电致变色器件还未贴合其他膜层时半成品的光学性能并不能代表电致变色器件的真正使用场景(电致变色器件与其他膜层配合后，其整体的颜色效果会发生变化)，因此在电致变色器件还未贴合其他膜层时做半成品的性能测试并不能反映电致变色器件成品(贴合其他膜层后)的光学性能，常规技术中的透过率方案则无法实现对电致变色器件成品的光学性能(尤其是响应时间)进行检测。

另外，在半成品阶段检测电致变色器件的响应时间性能会严重影响器件整体的生产效率，同时也没办法得知器件完成成品后整体的响应时间性能是否发生变化，具有不可控性以及不确定性，检测数据只能作为参考，不能直接作为器件整体结构响应时间的检测结果。半成品的电致变色器件膜片由于未与保护层(玻璃盖板或者保护层膜片)贴合导致裸露时间长，即open-time长，前期器件进水量大影响可靠性。半成品的电致变色器件膜片在中段检测的话，由于无盖板玻璃等结构的支撑，测试过程中可能的操作弯折产生ITO裂纹、褶皱等一系列不利影响从而降低器件的整体良率。

发明内容

本申请实施例第一方面提供了一种电致变色器件变色响应时间的检测方法，包括：

对电致变色器件施加一固定周期的恒压方波信号；

向所述电致变色器件发射特定波长的光线；

获取所述光线经过所述电致变色器件反射后光线的波形；

基于所述波形的相邻波峰与波谷之间的时间间隔来确定所述电致变色器件的变色响应时间。

第二方面，本申请实施例提供一种电致变色器件变色响应时间的检测装置，包括：

施压模块，用于对电致变色器件施加一固定周期的恒压方波信号；

光线模块，用于向所述电致变色器件发射特定波长的光线；

获取模块，用于获取所述光线经过所述电致变色器件反射后光线的波形；

确定模块，用于基于所述波形的相邻波峰与波谷之间的时间间隔来确定所述电致变色器件的变色响应时间。

第三方面，本申请实施例提供一种电致变色器件变色响应时间的检测装置，所述检测装置包括相互连接的处理器和存储器，所述存储器用于存储程序数据，所述处理器用于执行所述程序数据以实现如上述实施例中任一项所述的检测方法。