[发明专利]一种膜片厚度的光测试方法及系统

说明书

本申请公开了一种膜片厚度的光测试方法及系统，属于扬声器技术领域，光测试方法包括：获取膜片中心球顶部的顶点位置信息；获取光发射装置的光位置信息；根据顶点位置信息和光位置信息计算得到偏移量；获取光接收装置的检测信号，并根据检测信号得到膜片的初步厚度；根据偏移量和初步厚度计算得到膜片的最终厚度，本申请具有提高膜片厚度检测的精准度的效果。

技术领域

本申请涉及扬声器技术领域，尤其是涉及一种膜片厚度的光测试方法及系统。

背景技术

扬声器膜片是扬声器的重要零部件，膜片是由基层的高分子膜片和蒸镀在膜表面上的金属镀层构成的。

目前，通常采用测厚仪对膜片的厚度进行检测，测厚仪包括光发射装置、光接收装置、显示装置和暗盒，光发射装置、光接收装置与显示装置连接，光发射装置和光接收装置正对，且光发射装置和光接收装置位于暗盒中。光发射装置与光接收装置之间放置待检测的膜片，光发射装置发射光信号，光信号经过待检测的膜片被光接收装置接收并转换成电信号后输入到显示装置，根据电信号的强度，显示装置对膜片的厚度进行显示。其中，膜片的厚度与电信号的强度成线性反比。

针对上述中的相关技术，发明人认为存在有以下缺陷：膜片的中部通常设置有中心球顶部，检测时，难以将中心球顶部的顶点对准光发射装置，从而导致降低了膜片厚度检测的精准度。

发明内容

为了提高膜片厚度检测的精准度，本申请提供一种膜片厚度的光测试方法及系统。

第一方面，本申请提供一种膜片厚度的光测试方法，采用如下的技术方案：

一种膜片厚度的光测试方法，包括以下步骤：

获取膜片中心球顶部的顶点位置信息；

获取光发射装置的光位置信息；

根据顶点位置信息和光位置信息计算得到偏移量；

获取光接收装置的检测信号，并根据检测信号得到膜片的初步厚度；

根据偏移量和初步厚度计算得到膜片的最终厚度。

通过采用上述技术方案，先获取中心球顶部的顶点的位置信息，然后获取光发射装置的位置信息，根据两个位置信息进行计算，以得到光发射装置相对于中心球顶部的顶点的偏移量。启动光发射装置与光接收装置，光发射装置发射光信号，光信号经过中心球顶部被光接收装置接收并转换成电信号，将该电信号进行换算得到膜片的初步厚度，最后再根据偏移量和初步厚度计算得到膜片的最终厚度，进而提高了膜片厚度检测的精准度。

优选的，所述获取膜片中心球顶部的顶点位置信息，包括：

获取膜片的初始图像，对初始图像的中心球顶部的轮廓进行提取，以得到中心圆图像；

获取中心圆图像的圆心坐标，以得到顶点位置信息。

通过采用上述技术方案，获取膜片的图像，并对该图像进行处理，以得到中心球顶部对应的中心圆图像，该中心圆图像的圆心位置即是中心球顶部的顶点位置。

优选的，所述获取中心圆图像的圆心坐标，以得到顶点位置信息，包括：

利用霍夫变换获取中心圆图像的圆心的第一坐标；

利用最小二乘法获取中心圆图像的圆心的第二坐标；

对第一坐标和第二坐标进行算术平均，以得到圆心坐标。

通过采用上述技术方案，膜片放置在承接板上，分别获取圆心的第一坐标和圆心的第二坐标，并对第一坐标和第二坐标进行算术平均，可提高圆心的坐标的精准度。

优选的，所述根据偏移量和初步厚度计算得到膜片的最终厚度，包括：

获取中心球顶部的外径；